IEC CEI IEC NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD

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1 NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CEI IEC QC AMENDEMENT 1 AMENDMENT Amendement 1 Dispositifs à semiconducteurs Circuits intégrés Onzième partie: Spécification intermédiaire pour les circuits intégrés à semiconducteurs à l'exclusion des circuits hybrides Amendment 1 Semiconductor devices Integrated circuits Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits CEI 1995 Droits de reproduction réservés Copyright all rights reserved Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3, rue de Varembé Genève, Suisse IEC Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MeecaynapoaHan 3neerporexHHVeceaR Iiommccun Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue

2 amend. 1 CEI:1995 AVANT- PROPOS Le présent amendement a été établi par le sous-comité 47A: Circuits intégrés, du comité d'études 47 de la CEI: Dispositifs à semiconducteurs. Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: DIS Rapport de vote 47A/361/DIS 47A/392/RVD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti à l'approbation de cet amendement.

3 Amend. 1 IEC: FOREWORD This amendment has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits, of IEC technical committee 47: Semiconductor devices. The text of this amendment is based on the following documents: DIS Report on voting 47A/361/DIS 47A/392/RVD Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the repo rt on voting indicated in the above table.

4 amend. 1 CEI :1995 Page 24 Tableau II - Groupe A: Contrôles lot par lot Remplacer le tableau existant par le nouveau tableau suivant: Sousgroupe Examen ou essai Conditions d'essai Al Examen visuel externe CEI /QC , de Catégorie I NQA Catégorie II et Ill 1,0 0,4 A2 A2a A2b A3 A3a A3b A4 A4a Vérification de la fonction à 25 C sauf spécification contraire (Catégorie I: non applicable) Vérification de la fonction à la température maximale de fonctionnement (Catégorie I: non applicable) Vérification de la fonction à la température minimale de fonctionnement Caractéristiques statiques à25 C Caractéristiques statiques à la température maximale de fonctionnement Caractéristiques statiques à la température minimale de fonctionnement Caractéristiques dynamiques à 25 C sauf spécification contraire (Catégorie I: non applicable) Caractéristiques dynamiques à la température maximale de fonctionnement Comme spécifié dans la spécification particulière Voir la publication de la CEI applicable Voir la publication de la CEI applicable 0,15 0,1 0,4 0,4 0,65 0,25 1,5 0,4 2,5 0,4 1,5 0,65 1,0 A4b (Catégorie I: non applicable) Caractéristiques dynamiques à la température minimale de fonctionnement 1,0 NOTE 3 - Le fabricant peut utiliser les résultats des essais à T amb = 25 C s'il peut démontrer, annuellement, la corrélation avec les résultats obtenus aux deux températures extrêmes (voir 12.5).

5 Amend. 1 IEC: Page 25 Table II - Group A: Lot-by-lot Replace the existing table by the following new table: Subgroup Examination or test Conditions of test Al External visual examination IEC /QC , Category 1 AQL Category Il and III 1,0 0,4 A2 Verification of the function at 25 C unless otherwise specified A2a (Not applicable to category I) Verification of the function at maximum operating temperature Alb (Not applicable to category I) Verification of the function at minimum operating temperature A3 A3a A3b A4 Static characteristics at 25 C Static characteristics at maximum operating temperature Static characteristics at minimum operating temperature Dynamic characteristics at 25 C unless otherwise specified A4a (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at maximum operating temperature As specified in the detail specification See relevant IEC publication See relevant IEC publication 0,15 0,1 0,4 0,4 0,65 0,25 1,5 0,4 2,5 0,4 1,5 0,65 1,0 A4b (Not applicable to category I) Dynamic characteristics at minimum operating temperature 1,0 NOTE 3 - The manufacturer may use test results at Tams = 25 C, if he can demonstrate, on a yearly basis, the correlation with those at the two extremes of temperatures (see 12.5).

6 amend. 1 CEI :1995 Page 26 Tableau III - Groupe B: Contrôles lot par lot Remplacer le texte du sous-groupe 85 par ce qui suit: Sousgroupe Examen ou essai Publication de la CEI Conditions B5 (Pour les bottiers à cavité seulement): Etanchéité. Microfuites ou: Essai Qk Sévérité: 60 h 749, III, 7.3 Taux de fuite: ou 7.4 Equivalent à la sévérité 60 h de l'essai Oc puis: Fuites franches Essai Oc Méthode 3 Liquides: - phase 1: liquide 1 - phase 2: liquide 2" Bottiers sans cavité ou à cavité à scellement époxyde Variations rapides de température 749, III, cycles suivies de: - Examen visuel externe , Essai continu fortement accéléré de chaleur humide 749, III, 5 Sévérité 3 24 h - Essais électriques Voir sous-groupes A2 et A3 Comme en A2 et A3 (voir note 4) Remplacer la totalité des notes au bas du tableau par les nouvelles notes suivantes: Amendement 1 à la CEI 749. * Perfluorocarbone avec un point d'ébullition au-dessus de 50 C, par exemple contenant du perfluoro- N-hexane comme constituant principal. ** Perfluorocarbone avec un point d'ébullition au-dessus de 150 C, par exemple contenant du perfluorotributylamine comme constituant principal. NOTE 4 - Les spécifications particulières cadres peuvent permettre de réduire le nombre des essais en A3.

7 Amend. 1 IEC: Page 27 Table III - Group B: Lot-by-lot Replace the text of sub-group B5 by the following: Subgroup Examination or test IEC publication Details and conditions B5 (For cavity packages only): Sealing test Test Qk Severity: 60 h Fine leak or: 749, Ill, 7.3 Leak rate: or 7.4 Equivalent to severity 60 h of test Qc then: Gross leak Test Qc Method 3 Liquids: - phase 1: liquid 1* - phase 2: liquid 2** Non-cavity and epoxy-sealed cavity packages Rapid change of temperature 749, III, cycles followed by: - External visual examination , Damp heat, highly accelerated test 749, Ill, 5 Severity 3 24 h - Electrical tests See sub-groups A2 and A3 As in A2 and A3 (see note 4) Replace the totality of the notes at the bottom of the table by the following new notes: Amendment 1 to IEC 749. * Liquid perfluorocarbon with boiling-point more than 50 C, for example, containing perfluoro-n-hexane as a main ingredient. ** Liquid perfluorocarbon with boiling-point more than 150 C, for example, containing perfluorotributylamine as a main ingredient. NOTE 4 - Blank detail specifications may allow a reduction in the number of tests in A3.

8 amend. 1 CEI :1995 Page 28 Tableau IV - Groupe C: Contrôles périodiques Ajouter le sous-groupe C5a et modifier le sous-groupe C9 comme indiqué ci-dessous: Sousgroupe Examen ou essai Publication de la CEI Conditions C5a" Brouillard salin 749, III, 8 C9" Stockage à haute température (si spécifié dans la spécification particulière) 749, Ill, 2 Méthode 1 ** En option, à spécifier dans la spécification particulière. Page 30 Tableau V - Groupe D Modifier le sous-groupe D8 et ajouter l'essai pour l'énergie transitoire comme indiqué ci-dessous: Sousgroupe Examen ou essai Publication de la CEI Conditions 08* Endurance électrique Voir publication Voir 12.3, et, si applicable, 12.4 Durée: h applicable de la CEI de cette spécification Catégorie I: non applicable Catégories II et III: applicable si spécifié dans la spécification particulière D12 Energie transitoire Essai de tension spécifié dans la spécification particulière * En option, à spécifier dans la spécification particulière.

9 Amend. 1 IEC: Page 29 Table IV - Group C: Periodic tests Add sub-group C5a and modify sub-group C9 as follows: Subgroup Examination or test IEC publication Details and conditions C5a** Salt mist 749, Ill, 8 C9" Storage at high temperature (if specified in the detail specification) 749, III, 2 Method 1 " On an optional basis, to be specified in the detail specification. Page 31 Table V - Group D Modify sub-group D8 and add the transient energy test as follows: Subgroup Examination or test IEC publication Details and conditions D8` Electrical endurance See relevant See 12.3, and, if applicable, 12.4 Duration: h IEC publication of this specification Category I: not applicable Category 11 and Ill: applicable if specified in the detail specification D12 Transient energy Test voltage specified in the detail specification * On an optional basis, to be specified in the detail specification.

10 amend. 1 CEI:1995 Page 34 Tableau VIII - Exigences de prélèvements des essais des groupes B, C et D pour lesquels on doit utiliser les NQT. Remplacer le tableau existant par le nouveau tableau suivant: NQT (note 11) Sous-groupe Catégorie I Catégorie Ill Classe de sélection A Catégories II et Ill Autres classes de sélection B1 C B2a C2a B2b C2b B2c C2c C (note 12) B (note 12) C B5 C B5a C5a C C B8 (Non applicable) C8D C C NOTE 11 Niveau de qualité toléré, avec un critère d'acceptation de 2. NOTE 12 Pour les sous-groupes C3 (robustesse des sorties) et B4 (soudabilité), le NQT doit s'appliquer au nombre de sorties essayées qui ont été sélectionnées uniformément sur au moins quatre dispositifs. Page Essais d'endurance électrique Remplacer le sixième alinéa par ce qui suit: La durée des essais doit être spécifiée dans les sous-groupes applicables avec les tolérances suivantes: ± 10 h h, h et h doivent être considérées comme des durées minimales pour les essais.

11 Amend. 1 IEC: Page 35 Table VIII Sampling requirements for group B, C and D tests in which LTPD shall be used. Replace the existing table by the following new table: LTPD (note 11) Category Ill Sub-group Category I Screening class A Categories li and Ill Other screening classes B1 C B2a C2a B2b C2b B2c C2c C (note 12) B (note 12) C B5 C B5a C5a C C B8 (Not applicable) C8D C C NOTE 11 Lot Tolerance Percent Defective, with a maximum acceptance number of 2. NOTE 12 For sub-groups C3 (robustness of terminations) and B4 (solderability), the LTPD shall apply to the number of tested terminations which shall be selected uniformly from at least four tested devices. Page Electrical endurance tests Replace the sixth paragraph by the following: The durations of tests shall be as specified in the relevant applicable sub-groups with the following tolerances: ±1g h h, h and h shall be regarded as minimum durations for the tests.

12 ICS Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZERLAND