Chères lectrices et chers lecteurs, «Et si vous décidiez vous-même quelle sera votre prochaine Fluo Fischer?» 01 10/09 FRANCE FISCHER NEWSLETTER

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1 No /09 No. 07 FRANCE FISCHER NEWSLETTER Epaisseur Analyse Matériaux Micro Dureté Contrôle des Matériaux «editorial» Chères lectrices et chers lecteurs, Nous avons la joie de vous faire parvenir la dernière édition de notre Newsletter FISCHERSCOPE. Nous avons, à nouveau cette année, investi dans la proximité client et la compétence en Europe, en Asie et en Amérique du sud. Grâce à l ouverture de nos deux nouvelles filiales à Sao Paulo / Brésil et à Séoul / Corée du sud et au déménagement dans de nouveaux bureaux à Milan / Italie et Barcelone / Espagne, nous avons continué de consolider notre réseau mondial de service, de compétences et de vente. Mais nous nous sommes également rapprochés de nos clients dans d autres domaines: c est ainsi que FISCHER a participé pour la première fois depuis quelques années au BASELWORLD 2012, a organisé de nombreux séminaires client sur le thème de la mesure, ou a accru ses ressources dans les laboratoires d applications avec le recrutement de nouveaux salariés, etc. Quant au contenu de cette édition: les prix de l or atteignent des sommets avec le cours mondial et sa valeur refuge. Avec le nouvel instrument à fluorescence de rayons X XAN 220, FISCHER offre la solution idéale pour tester la teneur en or de façon rapide, non destructive et surtout fiable. La précision de cet appareil atteint les meilleurs niveaux. Les étalons or produits spécifiquement à cette fin par Helmut Fischer en garantissent la justesse. A ce sujet, vous pouvez lire l article en dernière page, mais également le premier article à propos de l analyse simple et rapide d éléments trace dans les matériaux destinés aux bijoux de fantaisie et aux accessoires. En plus des appareils de mesure, la maison Helmut Fischer produit des étalons de grande qualité. Leur mise en œuvre vous garantis une mesure précise. A titre d exemple, nous vous présentons les nouveaux étalons SnPb en page 3. N hésitez pas à nous communiquer vos commentaires à propos de nos articles ou à propos d une application donnée. Nous vous conseillerons avec plaisir. Bien cordialement Walter Mittelholzer CEO Helmut Fischer Holding AG Helmut Fischer AG Thierry Vannier Directeur Général Fischer Instrumentation Electronique sarl. «en détail» «Et si vous décidiez vous-même quelle sera votre prochaine Fluo Fischer?» Et si nous venions vous visiter pour prendre en compte chez vous, comment vous travaillez, comment sont vos pièces, quelles sont vos valeurs d entreprise et tous les détails de votre métier pour mieux vous assister dans le choix de votre prochaine Fluo, sans oublier de vous emprunter quelques pièces pour préparer des essais? Et si nous vous donnions toutes les informations pour que vous compreniez quelle Fluo vous conviendrait le mieux? Et si vous essayiez vous-même différents modèles de Fluo Fischer dans notre nouveau show Room avec vos pièces, pour évaluer, comprendre et finalement décider laquelle vous préférez? Et si nous vous livrions la machine que vous avez testée aujourd hui dès le lendemain? Années après années, la famille des «Fluo» Fischer ne cesse de s agrandir. Cette année encore, deux nouveaux modèles viennent d être lancés et complètent notre offre, le Fischerscope XAN 220 et XAN 250. Le dernier né, le XAN 250 devient la nouvelle référence du marché dans l analyse des métaux précieux en étant bien plus précis que la méthode traditionnelle par coupellation et incomparablement plus simple, moins cher, non destructif et plus rapide. Bien sur, cette famille nombreuse nous a amené alors à changer notre processus de vente des «fluo», parce que, vous apporter une Fluo Fischer à l essai ou en démonstration chez vous, pourquoi pas, mais laquelle? Si toutes nos Fluo sont bonnes, il y en a forcément une qui vous conviendra mieux que les autres, et vous seul, pourrez nous le dire, après les avoir essayées. Nous l avons vérifié dans les dernières ventes réalisées dans notre show room. Notre expérience récente nous démontre finalement, que 3 clients sur 4 repartent avec une Fluo Fischer différente de celles que nous pensions qu ils allaient choisir, principalement sur des critères d ergonomie ou de budget, simplement parce qu ils préfèrent acheter parfois «ce qu il y a de mieux», se faire plaisir et préparer l avenir! Et sur ces deux sujets, quelle que soit la qualité de nos conseils, nous ne pouvons pas nous mettre à votre place! Par contre, après les avoir «toutes» essayées, vous allez pouvoir choisir vous-même celle qui vous convient! A bientôt chez Fischer! Thierry Vannier

2 «en pratique» Analyse d éléments trace dans les matériaux utilisés pour les bijoux fantaisie et les accessoires Illustration 1: Les bijoux fantaisie sont constamment en contact avec la peau de l homme. C est pourquoi la teneur en substances nocives est limitée dans les matériaux utilisés. Dans le monde entier, la tendance est à la limitation de la concentration en certains éléments chimiques dans les biens de consommation. Depuis que des éléments comme le plomb, le mercure, etc. ont été «supprimés» des produits électroniques, des directives similaires vont également être mises en place pour d autres produits. Cela concerne notamment les bijoux fantaisie, les pièces d horlogerie et les accessoires comme les pièces métalliques des sacs à main, porte-monnaie ou vêtements. Les moteurs de ces directives sont aussi bien des organisations gouvernementales, comme par exemple la CPSC américaine, que des comités professionnels comme Oeko-Tex, une organisation qui s engage pour des textiles sans substances nocives. elément trace Pb Pb matrice ABS Al Cu Zn Sn Laiton, réel SnBi2, réel SnBi50, réel ecart type [ppm] Tableau 1: Valeurs typiques de répétabilité des valeurs pour la mesure d éléments trace (ED-RFA). Les écarts type sont une indication directe des concentrations minimum pouvant être détectées dans un matériau (Limite de détection ~ 3 x écart type). Les éléments qui seront limités sont diverses substances polluantes organiques, mais également les métaux lourds, spécialement Pb, Cd et Ni. Les valeurs seuils varient fortement en fonction des pays voire des secteurs. Les sociétés qui produisent pour un marché global suivront logiquement les directives les plus strictes de par le monde afin de simplifier la gestion commerciale. Cela signifie, par exemple, des seuils de 100 ppm Cd max. et 90 ppm Pb max. Pour des raisons de coûts, les pièces métalliques dans les bijoux fantaisie ou les accessoires ne sont pas produites à partir de matériaux massifs. Les bases sont fabriquées à partir d alliages particulièrement faciles à usiner et économiques, puis revêtues de revêtements décoratifs. Ce faisant, le matériau du revêtement comme celui du substrat ne doivent contenir aucun Pb ni Cd. Mais vérifier cela individuellement n est pas chose triviale. De ce fait, la façon la plus efficace d analyser les matériaux substrat comme les laitons, les alliages d étain, etc. est de le faire avant le façonnage et le revêtement. Les analyses se font généralement avec des appareils par émission optique d ICP ou par fluorescence de rayons X. Les avantages de ces deux méthodes sont assez différents et complémentaires. Les analyses ED-RFA sont très efficaces et économiques, et le niveau de mise en évidence suffit généralement (voir tableau 1). Pour les applications RFA plus complexes, on applique des évaluations statistiques une analyse se base toujours sur la moyenne de plusieurs valeurs. FISCHERSCOPE No. 07

3 Illustration 2: Corrélation de mesures de concentration Pb et de consignes certifiées par RFA. La justesse des valeurs est déjà très bonne avant la calibration. Cela est important en vue d obtenir un processus de mesure robuste. Comme la variations des valeurs mesurées sur un composant réel est plus importante que sur l élément pur, il faut travailler avec des moyennes de plusieurs mesures (ici, des moyennes de dix mesures, niveau de confiance de 95%). Le tableau illustre que la vérification de traces de plomb dans l aluminium est bien plus simple que dans des soudures SnBi ou dans des laitons. Pourquoi est-ce le cas, voire comment peut-on évaluer la difficulté de ce type d application? En principe, les éléments lourds (numéro atomique élevé) sont facilement décelables dans des matrices de matériaux légers (numéro atomique faible). La traçabilité du Pb dans les plastiques, métaux légers ou dans les plastiques oxydés fonctionne très bien avec l ED-RFA. Par contre, dans les alliages Fe, Cu ou Zn, cette vérification est plus difficile. Pour des considérations plus précises, il faut considérer la situation concrète au sein du spectre de fluorescence (énergie exacte de chaque ligne de fluorescence, comportement de l absorption/ excitation réciproque). Des limites de détection profondes sont un pré-requis important à la performance de la méthode. Il faut cependant également tenir compte de la justesse des mesures. Nous avons examiné cela pour différentes applications. Nous montrons ici un exemple de résultats de l analyse RFA très exigeante d alliages ZnAl pour coulée avec les appareils X-Ray FISCHERSCOPE XDV -SDD (voir illustration 2). Sans calibration, les valeurs mesurées sont déjà très proches des consignes certifiées. Les appareils X-Ray FISCHER sont utilisés partout dans le monde pour le dépistage de matériaux en production de bijoux fantaisie ou d accessoires. Dr. Daniel Sutter, Helmut Fischer AG Suisse «en détail» Nouveaux étalons SnPb pour l'analyse par fluorescence de rayons X dans les applications High Reliability L'illustration 1 montre différents circuits imprimés garnis. On peut, par exemple, mesurer les soudures et revêtements des composants électroniques avec le FISCHERSCOPE XDAL. Le procédé par fluorescence de rayons X non intrusif convient très bien à l analyse de la composition de soudures et alliages d étain. L analyse du Pb dans les alliages d'étain de soudure est une application importante et répandue des appareils FISCHERSCOPE X-RAY. D'un côté, la quantité de Pb autorisée est limitée pour des raisons de santé, de l autre, il existe des applications pour lesquelles le Pb doit être présent avec une concentration minimum dans l étain de soudure. La norme RoHS régule l utilisation de différen- No. 07 FISCHERSCOPE

4 tes substances polluantes; parmi elles, le Pb dans les composants électroniques afin qu il ne puisse pas proliférer dans l environnement. Ainsi, au cours des dernières années, les soudures contenant du Pb ont été remplacées par des soudures sans plomb, et il faut vérifier que le Pb reste sous le seuil de 1000 ppm. Le Consumer Product Safety Improvement Act (CPSIA) régule également l utilisation du Pb et a abaissé en 2011 le seuil autorisé à 100 ppm. Cependant, le domaine spatial ou médical (applications High Reliability) requiert des soudures exclusivement au Pb. Dans ce cas, il faut prouver que les alliages de soudure contiennent au moins 3 % de Pb. L explication réside dans le fait que le Sn pur entraîne la formation de trichite. La trichite est formée de monocristaux Sn en forme d aiguilles qui apparaissent après un certain temps à la surface et peuvent provoquer un court-circuit. Le test de ces composants est donc une tâche importante et à responsabilité qui exige quasiment un contrôle à 100 % de tous les composants. autres, le processus de fabrication à savoir si l alliage a été trempé ou refroidi lentement l usinage mécanique de la surface, le stockage et le vieillissement des spécimens, etc. sont des facteurs d'influence. Le tableau 1 montre des images électroniques de rétrodiffusion MEB de différents spécimens SnPb avec une teneur en Pb supérieure à 3 % ainsi que les résultats correspondants sans étalon. Les «îles» grises indiquent la phase riche en Pb, la «matrice» gris foncé la phase riche en Sn. On identifie que les «îles» peuvent avoir une étendue différente et qu elles sont réparties de façon plus ou moins homogène. La taille et/ou la non-homogénéité influencent également l intensité des lignes de fluorescence de rayons X. Avec le spécimen de référence homogène, la valeur RFA sans étalon correspond très bien à la consigne, ce qui permet de vérifier la teneur en Pb même sans étalon. Si la non-homogénéité s accroît, la différence par rapport à la consigne devient plus significative (voir tableau 1). Les alliages SnPb avec des teneurs en Pb dans la plage du ppm peuvent être sujets à des effets de vieillissement décrits dans la littérature. On a ainsi pu constater après quelques années une augmentation de la concentration en Pb, particulièrement dans des spécimens ayant été stockés de façon inappropriée (par ex. à température trop élevée). Le Pb s était enrichi à la surface. Il faut alors poncer la surface de ces spécimens avant mesure. Ce faisant, il spécimen de référence a snpb3 spécimen snpb3 spécimen snpb8 fil snpb38 eutectique Image électronique de rétrodiffusion MEB 10 μm 10 μm 10 μm 50 μm Consigne Pb en % de la masse 3,1 (+/- 0,15) 3,0 8,5 38 Pb mesuré en % de la masse 3,0 2,8 7,5 33,6 Diff. rel. cons. mes. en % s inh (non-homogénéité) 0,05 0,11 0,3 1,0 Tableau 1: Mesures de différents alliages SnPb avec le FISCHERSCOPE XDAL (50 kv, filtre Ni, diaphragme 0,2 mm * 0,2 mm, surface 3 mm * 3 mm avec 64 points, 2 2 temps de mesure 100 s, la non-homogénéité sinh se calcule avec s inh = s ges s wdh2 ). L analyse par fluorescence de rayons X permet de mesurer la composition des alliages d étain de soudure rapidement et de façon non intrusive. Le logiciel WinFTM permet aussi de déterminer l épaisseur de revêtements et, par conséquent, la composition exacte du revêtement SnPb sur différents composants électroniques comme des circuits imprimés, des prises et contacts, des BGA ou des résistances et condensateurs SMD (illustration 1). Lors de la mesure de la composition SnPb du revêtement de protection de composants SMD, il faut tenir compte du fait que des céramiques ou dans des revêtements enfouis peuvent contenir du Pb. Dans ce cas, une application de mesure spécifique en tient compte. Sn et Pb forment un alliage eutectique. C est pourquoi il y a toujours une phase riche en Sn et une phase riche en Pb l une à côté de l autre. La solubilité maximum du Pb dans le Sn est de 2,5 % de la masse, et celle du Sn dans le Pb de 19 % de la masse. La composition réelle des phases et l homogénéité voire la structure de cet alliage dépendent en fait de facteurs extrêmement variés. Entre faut veiller à ce qu'aucun apport étranger ne soit ajouté au spécimen. Cette problématique montre clairement combien il est important que les matériaux de référence du système SnPb soient fabriqués avec précaution et vérifiés régulièrement. La société Helmut Fischer GmbH propose pour les deux applications (RoHS et High Reliability) des matériaux de référence fabriqués en prêtant un grand soin à l homogénéité. De nouveaux procédés de fabrication ont permis d'améliorer significativement la qualité des alliages SnPb avec 3 % de Pb, ce qui a permis d'obtenir une très bonne distribution de la phase riche en Pb même avec des appareils par fluorescence de rayons X ayant un petit point de mesure inférieur à 50 μm (par ex. avec le XDVR-μ avec système optique à polycapillaires). L illustration 2 montre FISCHERSCOPE No. 07

5 l image électronique de rétrodiffusion MEB correspondant au nouvel alliage ainsi qu un balayage de lignes sur le spécimen par rapport à un matériau de référence SnPb3 classique qui ne convient que partiellement à la micro-analyse. Les matériaux de référence de Fischer sont aussi soumis à vérification à intervalles réguliers afin d exclure tout effet de vieillissement et de garantir un niveau de qualité élevé. Dr. Simone Dill Illustration 2 montre les images électroniques de rétrodiffusion MEB ainsi qu'un balayage de lignes sur le matériau de référence A du tab. 1 (en haut) et du nouveau matériau SnPb (en bas) sur une longueur de 1 mm avec le FISCHERSCOPE XDV -µ (polycapillaire avec FWHM d'env. 20 µm, 50 kv, fitlre Al, 50 *25 s, répétabilité 0,031%). «en détail» PICODENTOR HM500 avec microscope à force atomique: visualisation et quantification de structures dans la plage du nanomètre Illustration 2: Mesure de dureté sur du verre BK7 avec un effort maximum de 5 mn. La profondeur d indentation permanente est inférieure à 100 nm. Ces dernières années, les exigences quant aux propriétés de surface de différents matériaux se sont considérablement accrues. On a développé des systèmes de revêtements extrêmement complexes afin d obtenir des surfaces résistant aux rayures, anti-salissure, antistatiques, réfléchissantes ou ayant une capacité de stockage. Illustration 1: PICODENTOR HM500 avec microscope à force atomique. Le test d indentation permet de caractériser les propriétés mécaniques de ces revêtements souvent ultrafins; il fournit les grandeurs caractéristiques de dureté ou d élasticité des revêtements. No. 07 FISCHERSCOPE

6 Cela nécessite une mesure de course précise dans la plage du picomètre et une génération d effort jusqu à quelques micronewtons. Afin de pouvoir mesurer les plus petites structures, il faut positionner les spécimens de façon très précise. En vue d obtenir plus d éléments concernant les propriétés matériau, on Illustration 3: Mesure AFM (représentation 3D) d une indentation avec un effort maximum de 5 mn (échelle axe Z: 50 nm). Illustration 4: Indentation sur tungstène (F max = 50mN) avec gonflements reconnaissables distinctement. peut équiper le PICODENTOR HM500 d un microscope à force atomique MFA (Atomic Force Microscope, AFM) en option (illustration 1). La table XY programmable d une répétabilité < 0,5 μm, la table d amortissement actif des vibrations et la chambre de mesure fermée offrent des conditions idéales pour des mesures MFA supplémentaires. Les «microscopes à force atomique» regroupent des microscopes qui disposent d une pointe de sonde qui, contrairement à celle des microscopes à lumière polarisée, tâte physiquement la surface du spécimen. Le concept utilisé ici utilise un «cantilever» avec une pointe de silicium très fine afin de mesurer des différences de hauteur. Le système balaie la surface à mesurer en lignes, et acquiert la hauteur très précisément pour chaque point. La résolution dans le sens XY dépend de l arrondi de la pointe de mesure et est généralement de l ordre de 10nm. On peut représenter les données acquises de différentes façons: en plus de la Illustration 5: Acquisition optique d une mesure sur tungstène (F max = 50 mn, agrandissement 100 x). On reconnaît clairement moins de détails. topographie de la surface indiquée par le profil de hauteur, le MFA offre la possibilité de mesurer une série d autres grandeurs. Le MFA permet de représenter de façon idéale la mesure hautement précise de la distance grâce à l axe Z étalonné (avec un bruit de fond < 0,05 nm), mais également la phase et surtout les indentations des indenteurs avec des efforts maximums extrêmement faibles. Nous avons effectué des mesures sur une plaque de verre BK7 avec Fmax = 5 mn, (illustration 2). L effort maximum choisi entraîne une profondeur d indentation rémanente inférieure à 50 nm. La représentation 3D permet de visualiser des détails qui ne seraient pas visibles sans le MFA (illustration 5). Dans certains cas, cela permet une évaluation précise des résultats. Dr. Tanja Haas, Dr. Bernhard Nensel FISCHERSCOPE No. 07

7 «en pratique» Connaissez-vous le réel état de calibration de votre appareil de mesure d épaisseur de revêtements? déterminée se situe dans l incertitude de mesure de la valeur de référence, ou si un ajustement est nécessaire. L incertitude de mesure déterminée s affiche avec d autres informations; celles-ci représentent l état de calibration actuel du système (voir illustration 3). Cette incertitude de l appareil est une composante essentielle lorsqu on doit déterminer l incertitude totale pour les mesures subséquentes. Illustration 1: Il faut toujours calibrer les sondes correctement. Les appareils de mesure d épaisseur de revêtements tactiles sont utilisés dans les applications les plus variées. Qu il s agisse de mesurer des revêtements galvaniques fins, des laques automobiles ou des revêtements anticorrosion épais, on a souvent besoin de mesures qualitativement pertinentes, car elles servent à prouver le respect de tolérances définies par les clients. De même, il convient de garantir la comparabilité des résultats entre plusieurs appareils de mesure, par exemple pour comparer les mesures entre le fournisseur et l utilisateur. Cela requiert de déterminer l incertitude de la mesure conformément au guide 98-3 ISO/IEC, et donc en premier lieu l état actuel de calibration de la sonde. Tous les utilisateurs ne sont pas en mesure de déterminer cet état sans problème. C est pourquoi nos appareils offrent des outils simples et pratiques pour réaliser cette tâche. On peut déterminer l état de calibration d une sonde à l aide d étalons de référence. Il s agit le plus souvent d une bande métallique à mesurer avec une épaisseur de revêtements et une incertitude données. Comment procède-t-on à la vérification? Après activation de la fonction «Vérification de calibration» dans le menu «Calibration», on saisit la valeur d épaisseur de revêtement et l incertitude de l étalon de référence (voir illustration 2), puis on effectue plusieurs mesures avec. Fini! L appareil de mesure affiche ensuite si l épaisseur de revêtements Vérification de calibration Incertitude Veuillez saisir le type d incertitude! L incertitude du système de mesure ne doit bien sûr jamais être inférieure à celle de l étalon de référence utilisé. Même si un ajustement de l appareil est nécessaire, on ne peut améliorer l état de calibration que dans la plage de l incertitude de l étalon de référence. Si des mesures plus précises sont nécessaires, il faut alors aussi utiliser un étalon de référence avec l incertitude voulue. L incertitude constatée n est valable stricto sensu que dans la plage d épaisseur de revêtements de l étalon de référence. Si on doit mesurer un intervalle d épaisseur de revêtements plus important, il faut utiliser 2 étalons de référence qui couvrent la Vérification de calibration Résultat Détails Différence Calibration OK! Incertitude (k=2): Valeur testée E: KAL Repeat µm µm OK Illustration 3: Résultat de la vérification de calibration. plage de mesure. La vérification de la calibration et un éventuel ajustement doivent se faire à l aide de la bande métallique de référence et directement sur le substrat voulu (propriétés matériau et géométrie). De cette façon, on tient compte des principaux facteurs d influence liés à la mesure dans le calcul de l incertitude, et on les minimise durant l ajustement. Dans le cas contraire, il convient d évaluer par ailleurs ces composantes d erreur supplémentaires. De plus, l augmentation du nombre de mesures permet souvent de réduire l incertitude, spécialement en cas de surfaces substrat rugueuses. Le nombre de mesures exécutées est acquis automatiquement et intégré à au calcul d incertitude. Tolérance [µm] Tolérance relative [%] U(k=2) [µm] Uncertainty = µm OK Delete Illustration 2: Exemple de l affichage du FMP100 pendant la vérification de calibration. Ici : Saisie de l incertitude d une bande métallisée. L obtention de mesures d épaisseur de revêtements correctes et pertinentes pour le contrôle qualité avec détermination de l incertitude n est pas sorcier, mais est une source de problèmes pour de nombreux utilisateurs. L aide présentée ici offre une solution pratique et simplifie grandement cette étape. Dr. Hans-Peter Vollmar No. 07 FISCHERSCOPE

8 «en pratique» Nouvelle technologie et nouvelle apparence pour les appareils de la gamme XAN : FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 et XAN 250 diaphragme fixe d un diamètre de 1 mm (autres tailles disponibles en option), de tubes à rayons X à microfocus avec anode en tungstène et d un filtre primaire fixe. Chaque XAN 220 est fourni avec une configuration permettant l analyse de métaux précieux. Celleci contient les applications de mesure typiques sous la forme d un étalonnage usine. Le tableau ci-dessus (illustration 3) montre le résultat d une calibration avec 12 étalons. Il montre la valeur de consigne de l étalon (jeu Au(%)) et la valeur moyennée par le logiciel WinFTM sans calibration (Au(%) théor.). On peut voir que les valeurs non calibrées correspondent déjà bien aux consignes, et que la calibration ne doit apporter qu une légère correction. Illustration 1: Les différents nouveaux appareils XAN offrent des possibilités de mesure variées, depuis les mesures d or jusqu aux analyses de matériaux complexes avec de nombreux éléments. La gamme d appareils FISCHERSCOPE X-RAY XAN a été introduite il y a 12 ans. Les appareils de mesure de cette gamme ont été conçus sous la forme de systèmes d analyse compacts et puissants, et ils sont largement répandus sur le marché. Ils sont avant tout utilisés comme appareils de laboratoire d un côté ou pour répondre à des tâches spécifiques, comme l analyse de métaux précieux ou de substances polluantes. Cette gamme d appareils, qui avait subi peu de modifications depuis son introduction, a été fondamentalement modernisée, et équipée de nombreuses améliorations technologiques. Cela permet au FISCHERSCOPE X-RAY XAN de répondre aussi à l avenir aux besoins toujours plus exigeants de nos clients. Nouveautés technologiques Le détecteur à dérive silicium (SDD) d une surface active importante entraîne une amélioration majeure des performances ; il n est utilisé que dans le XAN 220 et le XAN 250. Il permet de travailler avec des taux de comptage deux fois plus élevés que ce qui était possible jusqu à présent avec les appareils XAN; cela permet de diviser le temps de mesure par deux tout en conservant la même précision. Bien entendu, tous les avantages du SDD sont également intégrés, comme la bonne résolution énergétique, la possibilité de travailler avec des taux de comptage très élevés et la sensibilité accrue pour les faibles énergies. D autres nouveautés améliorent en premier lieu l exploitation quotidienne de l appareil. Une caméra USB est maintenant installée de série pour la surveillance du point de mesure. Cela permet de s affranchir de la carte vidéo supplémentaire sur l ordinateur d évaluation. De plus, tous les appareils sont équipés de ventilateurs extrêmement silencieux, ce qui permet une exploitation sans aucun problème au bureau ou dans des locaux commerciaux. Illustration 3: Résultat de la calibration d un XAN 220 avec 12 étalons. Cela permet de garantir une précision élevée, même pour les types d alliage qui ne sont pas couverts par l étalonnage. Le Xan 250 Contrairement au XAN 220, le XAN 250 est équipé de 6 filtres primaires échangeables, ce qui permet d adapter le rayonnement d excitation primaire à de nombreuses applications différentes. De plus, 4 diaphragmes d un diamètre de 0,2 mm à 2 mm peuvent être sélectionnés de façon motorisée. Cela permet d analyser des surfaces spécimen de tailles très variées avec un seul appareil. Le XAN 250 permet donc de répondre aux besoins d applications aussi variées que l analyse d alliages, la détermination de la teneur en substances polluantes, la mesure de revêtements métalliques jusqu à la plage du nm ou la recherche d éléments ayant un faible numéro atomique. Il convient donc parfaitement bien à une utilisation comme appareil de laboratoire universel. Dr. Bernhard Nensel Illustration 2: Mesure avec les nouveaux appareils XAN. Ici: On pose simplement l objet en or et on le mesure de façon non intrusive. Le Xan 220 Le XAN 220 est spécialement conçu pour l analyse d alliages de métaux précieux. Les appareils sont équipés d un Fischer Instrumentation Electronique Sarl 7 rue Michael Faraday F Montigny-le-Bretonneux Tel : +33 (0) Fax: +33 (0) france@helmutfischer.com FISCHERSCOPE No. 07