Chères lectrices et chers lecteurs,

No. 01 10/09 No. 10 FRANCE FISCHER NEWSLETTER Coating Thickness Material Analysis Microhardness Material Testing «editorial» Chères lectrices et chers lecteurs, Nous avons la joie de vous faire parvenir la dernière édition de notre Newsletter FISCHERSCOPE. Le groupe Helmut Fischer investit à nouveau dans le futur et pose des jalons importants dans l élaboration de son réseau commercial mondial. Depuis janvier 2014, Notre société développe depuis Bangkok, la métropole de Thaïlande, ce marché important grâce à sa propre filiale. Cette année, nous allons ouvrir à Dubaï un bureau Fischer régional et continuer à investir dans la proximité client, le service clientèle et les infrastructures. Cette édition du FISCHERSCOPE se focalise sur la mesure qualité à l ère de la miniaturisation progressive. C est ainsi que la mesure de micro-dureté permet à présent de visualiser les plus petites indentations sur des revêtements de plus en plus fins par imagerie à l aide d un microscope à force atomique. Un autre article traite des nouvelles fonctions du logiciel WinFTM. Ce logiciel permet, lors de la mesure des soudures sur circuits imprimés et grâce au nouveau logiciel de reconnaissance d images, un positionnement sécurisé et automatisé. Cela permet d économiser du temps et de l argent. N hésitez pas à nous contacter. Nous serons heureux de vous aider à trouver une solution à vos applications de mesure. Bonne lecture! Bien cordialement Walter Mittelholzer CEO Helmut Fischer Holding AG Helmut Fischer AG Thierry Vannier Directeur Général Fischer Instrumentation Electronique sarl. «actualités» «Ce qui rend tous les clients Fischer heureux : C est d être livré sans délai et de disposer immédiatement de son appareil de mesure Fischer» Chers clients, Depuis quelques années, nous nous efforçons de disposer en stock de tous les appareils de la gamme standard Fischer, de leurs accessoires et des pièces de rechange. Parce que nous voulons vous proposer un service premium, nous sommes capables de vous livrer sans délai vos commandes d appareils Fischer. M. Stéphane Barbey, responsable de la logistique chez Fischer, est très attentif à stocker tous les appareils de la gamme standard Fischer, en quantité suffisante. C est lui qui signe le document qui accompagne vos produits, attestant d avoir personnellement contrôlé que votre colis est complet et conforme à votre commande. Nous nous attachons même à disposer en stock de certificats d étalonnage pour les cales étalons, (cette certification est une option d achat pour les cales étalons), avec une date de certification récente. C est une situation paradoxale, mais que notre exigence pour votre service impose naturellement. En effet, si nous savons vous livrer les instruments, les sondes, les étalons, c est juste dommage de devoir attendre le certificat! Pour ce faire, nous avons investi en ce début d année dans notre zone de stockage, avec des rayonnages fixes pour nos Fischerscope X-Ray, et des rayonnages mobiles pour nos instruments de mesure portables et les pièces de rechange. Compte-tenu de la large gamme d appareils de mesure, nous disposons en moyenne d une dizaine de Fischerscope X-Ray neufs, et de quelques occasions, et d une centaine d appareils portables et de sondes. D autres travaux nous attendent en ce début d année dans le domaine de la logistique, notamment pour améliorer notre packaging et le système de suivi de votre livraison. Notre souhait : que la réception de votre colis Fischer, soit un moment heureux et agréable, joyeux et festif! Vos encouragements lors de vos visites nous motivent à toujours mieux vous servir. A bientôt chez Fischer! Thierry Vannier

«en pratique» Nouvelles fonctions du logiciel WinFTM : reconnaissance d images par XRF La méthode par fluorescence de rayons X est une méthode de mesure qui ne nécessite la plupart du temps aucune préparation dispendieuse du spécimen. Le placement du spécimen sous le faisceau de rayons X est souvent suffisant. Mais, lorsque le spécimen a les mêmes dimensions que la taille du point mesuré, un positionnement précis devient plus compliqué. C est le cas, par exemple, pour la détermination de l épaisseur de revêtements de contacts sur circuits imprimés. Le logiciel WinFTM bien connu propose à partir de la version V 6.30 une option qui est d un grand soutien dans ce cas : la reconnaissance d images. L illustration 1 montre une partie de ce type de circuits imprimés. Le marquage rectangulaire montre la partie qui doit être retrouvée par reconnaissance d images ; la croix dans le marquage indique la position souhaitée de la mesure. Le déroulement de la reconnaissance d images apparaît dans les deux images de l illustration 2. A gauche, on voit la position du spécimen avant la reconnaissance d images, à droite sa position après. Illustration 1 : définition de l extrait de l image et de la position du point de mesure pour la reconnaissance d images à venir. Illustration 3 : circuit imprimé positionné avec un XDV -µ. Il faut mesurer les 20 composants (16 visibles) les uns après les autres à l aide de la reconnaissance d images. additionner l erreur de positionnement aux tolérances de production des arêtes, ce qui peut faire varier les positions des points de mesure de plusieurs dizaines de mm. Cet ordre de grandeur de variation est déjà dans la plage de la taille des contacts. Cette application associe l option de programmation de coordonnées XY, déjà disponible dans des versions antérieures de WinFTM et qui permet d approcher ces coordonnées automatiquement les unes Illustration 2 : déroulement de la reconnaissance d images. A gauche : position avant la reconnaissance d images ; à droite après. Le système a approché la position définie dans l illustration 1. La mesure de l épaisseur peut maintenant avoir lieu de façon sécurisée bien que la position configurée manuellement se trouvât à côté du contact. L illustration 3 montre un autre circuit imprimé. Il faut approcher les 20 composants qu il comprend en tout, automatiquement et les uns après les autres, et déterminer l épaisseur de revêtements du contact aux positions prédéfinies. L illustration 4 montre un composant de ce type avec les emplacements à mesurer sur les contacts ; ils sont tous marqués d un X rouge. Généralement, on positionne les circuits imprimés à la main dans l appareil à fluorescence de rayons X, de façon à ce que leurs arêtes extérieures affleurent par rapport à une arête. Dans ce cas, il faut Illustration 4 : vue détaillée d un composant sur un circuit imprimé. Les contacts à mesurer sont indiqués par un «X» rouge. après les autres, à la reconnaissance d images. Pour ce faire, on définit pour chaque point de mesure à quoi ressemble l objet à mesurer. La reconnaissance d images n est cependant pas seulement utile avec de gros objets comme des circuits imprimés. Les très petits objets sont justement aussi très difficiles à positionner. Les composants CMS, par exemple, ont une taille de quelques 100 µm et leurs arêtes sont revêtues d étain. On peut, entre autres, déterminer l épaisseur de ce revêtement d étain en positionnant et mesurant les composants sur la table d un appareil de mesure dans une trame libre, comme le montre l illustration 5. FISCHERSCOPE No. 10

Illustration 5 : composants CMS. Ce faisant, et contrairement au cas des circuits imprimés, la routine de reconnaissance d images doit tenir compte du fait qu ils peuvent être orientés différemment. On peut aussi définir plusieurs points de mesure par composant, comme par exemple un point mesuré par arête revêtue, ou un point mesuré dans chaque coin du composant. La nouvelle fonction de reconnaissance d images de WinFTM est d une grande aide pour tous les utilisateurs des appareils XRF FISCHERSCOPE dès qu il s agit de positionner automatiquement de petits spécimens. Pour visionner des vidéos qui montrent le fonctionnement de la reconnaissance d images, rendez-vous sur notre site web à l adresse www.helmut-fischer.de/bilderkennung Dr. Jens Kessler «en détail» Précision et diversité Étalons sur mesure pour les applications à rayons X La fabrication d étalons répond à des défis particuliers. Les nouveaux matériaux exigent non seulement la mise en œuvre des dernières technologies, mais sont aussi souvent source de problématiques complexes posées aux experts du laboratoire d étalonnage. Illustration 1 : composants CMS sur un circuit imprimé. Le contrôle qualité et un pilotage process optimisé jouent un rôle de plus en plus prépondérant en production. Cela entraîne le besoin de pouvoir exécuter des mesures fiables permettant de répondre aux exigences élevées d un système qualité certifié. L analyse par fluorescence de rayons X à dispersion d énergie est une méthode de mesure particulièrement universelle. Elle permet de déterminer l épaisseur de revêtements et la composition matériau dans de nombreuses applications, mais dépend souvent de matériaux de référence. La variété invraisemblable des applications industrielles et les cycles d innovations de plus en plus courts représentent un défi quant à la disponibilité d étalons adéquats. Les laboratoires accrédités DIN EN ISO/IEC 17025 de Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik et de Helmut Fischer Technologie AG produisent ce type d étalons. La gamme standard intègre pas moins de 300 étalons qui couvrent de nombreuses applications dans différents secteurs. Grâce à sa longue expérience, le laboratoire d étalonnage FISCHER est en mesure de proposer à ses clients la prestation unique de pouvoir certifier leur propre produit selon le procédé accrédité un avantage inestimable tant pour la gestion de la qualité que pour le client final. N o. 1 0 Les matériaux hétérogènes en font partie, comme le montre l exemple des étalons pour composants CMS (Composants Montés en Surface) (illustration 1). Un de leurs plus gros avantages la miniaturisation est en même temps le plus gros défi. Pour garantir leur capacité à être soudés et leur fonctionnement, il faut mesurer l épaisseur de revêtements des surfaces de contacts composées de revêtements étain et nickel d une épaisseur de quelques µm sur une pâte argent. Cela représente une performance de pointe quant aux technologies de mesure par XRF sur des largeurs de composants de seulement 125 µm qui n est devenue possible que depuis quelques mois grâce aux meilleur système de capillaires optiques à rayons X du monde et à la table X-Y extrêmement précise de la gamme FISCHERSCOPE -XDV -µ. De plus, l homogénéité et la géométrie des revêtements sont déterminantes pour la fabrication d étalons certifiés. Une image en coupe polie (illustration 2) montre déjà les défis particuliers des composants CMS. La pâte argent poreuse en forme de coupelle et le substrat céramique rendent plus difficile un référencement du revêtement apposé dessus. Illustration 2 : image en coupe polie de composants CMS au microscope. On identifie clairement le revêtement sur les côtés ainsi que la structure poreuse de la pâte argent sur la céramique. FISCHERSCOPE

Une analyse XRF par paramètres fondamentaux et la mise en œuvre d un microscope avec rayonnements à ions focalisés (illustration 3) permettent de déterminer toutes les épaisseurs de revêtements de façon fiable. Le revêtement partiel des surfaces latérales, qui peut exercer une influence négative sur la mesure de l épaisseur de revêtements sur la face des composants, a été pris en compte grâce à une conception spéciale du support de spécimen. Cela a permis de fabriquer des étalons à partir de composants typiques ; ceux-ci permettent un contrôle du procédé conforme au système qualité. Les compétences du laboratoire d étalonnage FISCHER autorisent une large plage d étalons en matériau client des revêtements alliage sur tranches jusqu aux fils revêtus en passant par les aciers médicaux et billes de soudage. En plus de sécuriser la qualité, cela conforte également la compétitivité sur le marché. Dr. Jörg Leske Illustration 3 : structure en couches sur une coupe FIB. Séquencement du revêtement de haut en bas : Pt/Sn/Ni/pâte Ag. (Institut d essais de matériaux MPA Université de Stuttgart). «en pratique» MFA Un plus pour la mesure de micro-dureté Traitement du signal Photodiode Laser Piezo Cantilever avec pointe Surface de l échantillon Illustration 1 : le microscope à force atomique (MFA) élargit le champ d action de la mesure de micro-dureté. Un microscope à force atomique (par la suite MFA : «microscope à force atomique») peut compléter les essais de micro-dureté, particulièrement dans les applications à revêtements fins et faibles efforts. Contrairement aux microscopes à lumière polarisée, le MFA suit le contour de la surface du spécimen. Pour ce faire, on utilise un petit bras le cantilever avec une pointe silice particulièrement fine pour mesurer les différences de hauteur. On peut mesurer des indentations et obtenir ainsi plus d informations à propos de la déformation, mais cela permet également de déterminer d autres propriétés matériau (voir illustration 2). Le balayage d une surface avec un MFA n est en général que le premier pas ; il faut ensuite interpréter les résultats et éventuellement ajuster les paramètres de la mesure pour obtenir des résultats significatifs. Si on compose avec le MFA, la compréhension s améliore et, avec plus d expérience, on peut déterminer plus simplement les bons Illustration 2 : schéma de principe d un microscope à force atomique (MFA). Le cantilever palpe la surface en diamant. paramètres pour l application voulue. On peut noter que, contrairement à la mesure de micro-dureté dont les principes s acquièrent relativement rapidement, le MFA nécessite une initiation plus complète. Mais une fois cet obstacle surmonté, il offre plus de possibilités d analyse du spécimen. Après une mesure d aperçu du spécimen, on peut lancer l analyse à proprement parler et l interprétation des résultats. Nous souhaitons montrer ci-dessous quelques-unes des possibilités permettant de considérer des surfaces et d extraire des informations supplémentaires de la mesure. Pour ce faire, nous ne considérons dans cet exemple aucune indentation, mais la pointe diamant d un indenteur (illustration 3). En premier lieu, on mesure la pointe ; la surface mesurée par le MFA correspond à peu près au cercle de l illustration 3. On observe que FISCHERSCOPE No. 10

Illustration 3 : acquisition de la pointe d un indenteur de Berkovich. hauteur longueur Illustration 5 : coupe à travers la pointe de l indenteur. le MFA permet une résolution nettement meilleure que celle du microscope à lumière polarisée. Une surface de quelques micromètres carrés montre la zone «intéressante» de l indenteur qui a la plus grosse influence sur les résultats lors de la mesure de dureté à cause de le l arrondi de la pointe. la phase: Le cantilever du MFA et la pointe oscillent à une fréquence définie. Lorsque la pointe entre en contact avec un matériau, les extrêmes de l oscillation se déplacent proportionnellement aux propriétés du matériau. L illustration 4 montre la pointe à trois côtés d un indenteur de Berkovich ; on reconnaît aussi clairement la rupture des surfaces latérales. Afin de mieux reconnaître cette rupture, nous avons procédé à une nouvelle coupe de la pointe (illustration 5). La différence de pente se déduit du fait que la ligne s étend une fois le long de l arête de la surface latérale et une fois directement sur la surface latérale. Illustration 6 : résultat de la mesure MFA avec ombre pour la représentation des détails. Illustration 7 : mesure de phase sur la surface latérale d un indenteur. Illustration 4 : mesure d une pointe Berkovich avec le MFA. La représentation des ombres permet de mieux visualiser les microstructures. C est ce que montre l illustration 6 avec l exemple d un indenteur de Vickers. Cette représentation permet de visualiser les petites impuretés de la pointe qui peuvent influencer le résultat et doivent donc être écartées. L illustration 7 montre une mesure sur la surface latérale d un indenteur. Elle ne représente pas les différences de hauteur, mais Dans l illustration 7, on identifie par exemple de très faibles différences dans la mesure de phase grâce à la surface foncée. Dans le cas d un diamant naturel, cela peut indiquer, par exemple, des inclusions d autres minéraux. C est caractéristique des diamants naturels utilisés pour la pointe de l indenteur à cause de leur dureté plus élevée. Les mesures présentées donnent un petit aperçu des possibilités d un MFA. La mise en œuvre de ce procédé demande une certaine expérience et nécessite un examen nuancé des résultats. Dr. Tanja Haas «en pratique» Mesure du taux de ferrite d équipements offshore Illustration 1 : jeu d étalons FISCHER, traçables par rapport au TWI, Royaume Uni (dans l unité FN). L industrie pétrolière et gazière transporte habituellement des fluides ou des gaz depuis des plateformes de forage technologiquement très bien équipées à l aide d oléoducs sous-marins et ce souvent dans des conditions vulnérables. Ces techniques de production avancées nécessitent la mise en œuvre d alliages métalliques extrêmement modernes aux excellentes propriétés matériau telles que : la ténacité, la résistance à la corrosion et la résistance à la corrosion fissurante dans des environnements chlorurés. Ces alliages métalliques ne doivent cependant nécessiter que relativement peu de maintenance. No. 10 FISCHERSCOPE

Cette capacité d adaptation a été démontrée en répondant aux besoins de différents exploitants Offshore en termes de mesure. Certains utilisateurs ont même demandé à utiliser des étalons internes dans le processus d étalonnage afin de pouvoir garantir une vérification de l étalonnage conforme aux directives internes. Ces étalons client sont en général des bouts de tuyau en Illustration 3 : mesures sur une soudure de tuyau avec la sonde FGAB 1.3 Fe. acier inoxydable du diamètre voulu provenant du procédé de production client. Le client a fait certifier le taux de ferrite de ces bouts de tuyau à l aide d un procédé intrusif métallographique (pour des aciers duplex, on parle de taux de ferrite entre 50% et 60%). Cette façon de faire a l avantage de prendre en compte l effet de courbure du type de tuyau choisi pendant le procédé d étalonnage. Si l utilisateur n étalonnait qu avec un jeu d étalons FISCHER plats, il lui faudrait corriger après mesure le taux de ferrite obtenu sur le tuyau en fonction de son diamètre. Illustration 2 : l appareil FERITSCOPE FMP30. Deux types de grands groupes d alliages répondent à ces besoins : il s agit des aciers austénitiques et des aciers inoxydables duplex. Bien que ces aciers présentent ces propriétés, ils sont très dépendants du taux de ferrite. Un taux de ferrite trop faible peut entraîner la formation de fissures de solidification dans les soudures. Au contraire, un taux de ferrite trop élevé peut entraîner une modification indésirable de la malléabilité, de la portance ou de la résistance à la corrosion. La société Helmut Fischer a identifié très tôt la nécessité de systèmes de mesure mobiles pour ce type d applications. L appareil FERITSCOPE FMP30 répond à tous ces besoins en offrant des possibilités d évaluation statistique, le stockage de données, une acquisition continue de la mesure et une transmission simple des données vers le PC. L appareil mesure le taux de ferrite des aciers austénitiques et duplex selon le procédé à induction magnétique. Ce faisant, il acquiert tous les composants magnétisables de la structure ; ce qui signifie qu il mesure aussi, en plus du delta-ferrite, la martensite de déformation ou d autres phases ferritiques. On peut procéder à un étalonnage maître à l aide du jeu d étalons FISCHER (illustration 2). Ils sont traçables par rapport au Welding Institute (TWI), Royaume Uni, dans l unité FN (nombre de ferrite). Les étalons sont disponibles dans une plage de 0,4 à 110 FN (ce qui correspond à un taux de ferrite d environ 0,4% à 80%). On peut aussi utiliser des étalons ferrite propres au client qui répondent exactement à ses besoins. Les mesures de taux de ferrite sont menées de façon à acquérir des mesures à intervalles de 90 degrés sur la circonférence du tuyau (quatre mesures sur la soudure). La moyenne de ces quatre mesures est considérée comme le taux de ferrite caractéristique du spécimen pendant l essai. L illustration 3 montre l exécution d une mesure juste avant l impact de la sonde sur la soudure du tuyau. A droite et à gauche de la soudure, il faut aussi déterminer les zones de transformation ZAT ; on les mesure avec le même procédé sur la circonférence. La moyenne de ferrite caractéristique pendant un essai sur un tuyau duplex était de 55,1% dans la zone de transformation ZAT (à gauche) ; de 42,3% sur la soudure ; de 57,1% dans la zone de transformation ZAT (à droite) avec un coefficient de variation d environ 4%. Différents plan d assurance qualité exigent un taux de ferrite entre 35% et 65% sur la soudure ainsi que dans les zones influencées thermiquement limitrophes pour les tuyaux en super duplex. Les données d étalonnage et applicatives sont stockées dans l appareil ; on peut les y appeler simplement par la suite. Les mesures se font en quelques secondes. Les résultats mesurés apparaissent sous forme statistiques sur l appareil ou bien on peut les transférer au PC pour une évaluation et un stockage supplémentaires. Nos clients britanniques ont choisi d acheter et d utiliser le FISCHER FERITSCOPE FMP30 parce qu il leur permet de mesurer simplement, rapidement et précisément le taux de ferrite de soudures et dans les zones de transformation (plage de mesure de 0,1% à 80% de ferrite). Une autre raison essentielle a été la possibilité de pouvoir utiliser leurs propres étalons client spécifiques internes. Alun Lewis BSc Fischer Instrumentation (GB) Ltd FISCHERSCOPE No. 10

«en pratique» Activités FISCHER pour le développement de normes industrielles PCB n Au 1 [nm] Pd 2 [nm] Ni 3 [nm] 1 48.5 97.9 4375 2 48.7 98.6 4381 3 48.6 99.0 4383 4 48.8 100.1 4392 5 49.0 100.1 4388 6......... 20 49.1 100.4 4395 21 49.3 100.5 4390 22 48.5 100.0 4395 23 48.4 99.0 4383 24 49.2 98.5 4389 25 49.1 98.0 4385 Tableau 1a : valeurs réellement mesurées sur un étalon FISCHER (mesures avec le FISCHERSCOPE XDV -SDD). Etant une société globale et leader dans la mesure d épaisseur de revêtements, FISCHER participe activement à la normalisation des fédérations industrielles et des organisations normatives. Une de ces fédérations industrielles conseillée par FISCHER est la fédération IPC-Association Connecting Electronics Industries. L IPC développe des normes importantes pour ses plus de 3.100 membres de l industrie électronique dans le monde entier. Le message crucial que nous transmettons tous les jours en tant que partenaire de nos clients est comment mesurer justement dans chaque environnement de production avec une répétabilité élevée et de façon reproductible. C est notre travail quotidien et aussi une partie de notre esprit d entreprise. En tant qu experts dans le domaine de la mesure d épaisseur de revêtements pour la galvanisation, nous connaissons les défis qui sous-tendent les besoins client. Nous avons le savoir-faire nous permettant de fournir les solutions adaptées. Au fil des ans, de nombreux clients FISCHER ont mesuré des revêtements Au/Ni/Cu sur circuits imprimés en tâche de routine avec des appareils à tube compteur proportionnel. FISCHER a été le premier à avoir introduit un facteur de correction pour le Br dans le matériau des circuits imprimés et à avoir équipé ses appareils d une stabilité à la dérive. La tendance dans ce domaine est à toujours plus de nouveaux procédés de revêtement en vue d atteindre les objectifs d accroître la fiabilité et la capacité à la soudure et d obtenir l aptitude au câblage par fil. Le but ultime est d économiser les coûts. En tant que fabricant d appareils de mesure, nous pouvons apporter notre soutien à la résolution de cette problématique. Un de ces procédés de revêtement est le nickel-chimique, palladium-chimique, revêtements or fin (élaboré sans courant, ENEPIG). Il s agit d un traitement de surface multifonctionnel adapté aux soudures comme le câblage par fil or, aluminium et cuivre. Les prérequis de la catégorie 3 IPC (capacité de stockage d au moins 12 mois) sont respectés et répondent à toutes les applications de composants CMS, hybrides et métallisés. FISCHER participe au sous-comité revêtement 4-14 IPC ; il travaille sur la mise en œuvre d ENEPIG comme traitement de surface des circuits imprimés. La norme a été publiée en janvier 2013 sous la dénomination IPC 4556. Quelles sont les spécificités? La norme définit les épaisseurs de chaque revêtement de la façon suivante : Nickel chimique : 3 6 µm Palladium chimique : 50 300 nm Or fin déposé sans courant : au moins 30 nm Les revêtements relativement fins impliquent d apporter une attention scrupuleuse à la configuration et à l étalonnage de l appareil. Ces revêtements si fins sont déjà soumis à l influence du circuit imprimé, par exemple à cause des différentes sous-couches de cuivre. De plus, les différentes épaisseurs et compositions du circuit imprimé lui-même exercent une influence parfois très forte sur la justesse et la répétabilité des valeurs d Au et de Pd mesurées. Par conséquent, on peut aisément imaginer la difficulté d obtenir un procédé de production ajusté, répondant aux exigences d IPC 4556 et en même temps économe (par la réduction de la consommation de matière). Au 1 [nm] Pd 2 [nm] Ni 3 [nm] Moyenne 48.92 nm 99.68 nm 4388.0 nm Écart type 0.286 nm 0.837 nm 5.112 nm Coeff. de variation (%) 0.59 0.84 0.12 Plage 1.07 nm 3.14 nm 20.2 nm Nombre de mesures 25 25 25 Min 48.4 nm 97.9 nm 4375 nm Max 49.4 nm 101.0 nm 4396 nm Temps de mesure 120 sec Tableau 1b : évaluation des valeurs mesurées du tableau 1a. Il devient impossible de remplir la norme avec des appareils à tube compteur proportionnel. FISCHER répond aux spécificités de cette application avec le FISCHERSCOPE XDV -SDD. Il associe une conception intelligente des équipements à un logiciel WinFTM avancé. Pour une justesse optimale, FISCHER a développé des étalons à trois couches : une couche d or sur une couche de palladium sur une feuille de nickel. IPC 4556 exige l utilisation d étalons à trois couches traçables par rapport à un laboratoire de métrologie national. Les étalons Fischer (article 604-467) remplissent totalement les exigences d IPC 4556 car ils sont traçables selon les conditions ci-dessus grâce à un certificat DAkkS de FISCHER. De plus, la norme définit en détails le défi de cette application et indique comment mettre en place un appareil à fluorescence de rayons X et comment mener une analyse de l appareillage de mesure afin de justifier des capacités de l appareil. Voici des valeurs mesurées caractéristiques obtenues avec un appareil FISCHERSCOPE XDV -SDD correctement étalonné : consigne de l étalon mesuré, Au49nm/Pd100nm/Ni4387nm. Michael Haller M.Sc. Fischer Technology, Inc., Windsor, USA No. 10 FISCHERSCOPE

«en pratique» FISCHER continue à développer son réseau commercial mondial Quiconque souhaite réussir dans un monde globalisé doit connaître les besoins et les souhaits de ses clients. C est pourquoi FISCHER veut être reconnu comme un partenaire de ses clients et donne une extrême importance à un conseil professionnel et à une collaboration étroite. Dans l esprit de ses exigences en termes de qualité et de satisfaction client, FISCHER a été l une des premières sociétés suisses à obtenir la certification DIN EN ISO 9001 au début des années 90. De nombreuses filiales sont également certifiées selon cette norme et sont auditées régulièrement. La formation des nouveaux collègues de FISCHER est également un élément capital en vue d être en mesure de garantir des prestations qualitativement éminentes. Car seul celui qui sait comment mesurer correctement ne rate aucun coup! Illustration 1 : ouverture de Fischer India. La création de ses propres filiales en Malaisie, Indonésie et Corée au cours de trois dernières années ont été des étapes décisives pour FISCHER dans le développement de son réseau commercial en Asie : Fischer Thaïlande et son siège à Bangkok vont valoriser sous peu ce marché énorme. Et l expansion ne s arrête pas là : cette année encore, nous ouvrons un bureau à Dubaï et ouverture de Fischer Taiwan début 2015! Des investissements dans les domaines des laboratoires applicatifs, des achats, du service Illustration 2 : ouverture de Fischer Thaïlande. et du marketing ainsi que la création voire l extension des bureaux à Hünenberg, en Inde, en Chine (Shanghai, Xian, Xiamen et Chengdu), à Singapour, en Espagne, en France et en Italie ont permis de poser des jalons importants au cours des dernières années. Les marchés émergents de Chine et d Inde sont en premier lieu l objet d une politique continue d établissement de nouvelles bases commerciales et de service afin d être au plus près des clients locaux sur ces marchés géographiquement importants. La société suisse Helmut Fischer AG montre, avec une croissance de 30% du personnel commercial mondial du groupe Fischer sur les 7 dernières années, qu elle est prête à affronter le futur avec succès. Notre regard reste tourné vers l avenir afin de pouvoir toujours répondre au mieux aux attentes de nos clients du monde entier, voire d être en mesure de surpasser celles-ci. FISCHER INSTRUMENTATION ELECTRONIQUE SARL 7 rue Michael Faraday F 78180 Montigny-le-Bretonneux Tel : +33 (0)1 30 58 00 58 Fax: +33 (0)1 30 58 89 50 france@helmutfischer.com FISCHERSCOPE No. 10