INVITATION AU CONGRÈS DES TECHNOLOGIES ET DES EXPERTS 2 mars 2016 Kursaal, Berne
2 Keynotes Keynotes Discours introductif : Christian Moser Shelley Gretlein Hans Hess Christian Moser Director, Platform Software Président Managing Director and Customer Education Swissmem Switzerland GmbH 09h00 10h30 You and NI Organiser ensemble l Internet des objets aujourd hui et demain 13h30 14h30 La fin de l espace suisse? Nous vous présentons de nouvelles technologies, les dernières grandes tendances et l approche, basée sur plateforme, de conception graphique de systèmes au rythme des minutes à l ouverture de NIDays. L IoT (Internet des objets) ou CIoT dans le secteur commercial et IIoT dans le secteur industriel la prochaine génération du secteur de la communication mobile (5G) et le Big Analog Data en sont plusieurs points forts. Nous vous y montrons l application pratique de démonstrations basées sur les solutions clients à succès, de nouveaux produits et de systèmes et technologies, qui élargissent la gamme performante de National Instruments. Nous vous proposons par ailleurs un aperçu du développement de nos outils logiciels et de la manière dont ils as surent un rendement accru aux utilisateurs. Les experts du secteur expliquent les possibilités et les défis que ces grandes tendances nous apporteront aujourd hui et à l avenir dans les domaines d application essentiels des systèmes de mesure et de contrôle et des systèmes embarqués. Après la crise financière et économique en 2008 et 2009, le premier choc du franc en 2011 et le second cette année, la Suisse se retrouve face à des défis de proportions historiques. La réduction des effectifs et les délocalisations vers des pays à moindre coût battent leur plein. La pression pour réduire les coûts et l incertitude au sein des entreprises sont énormes. Serait-ce donc bel et bien la fin de l espace économique suisse? Avec Hans Hess, connaisseur de longue date de ce secteur et président de l association Swissmem, nous avons sans aucun doute invité la personnalité par excellence qui saura parfaitement répondre à ces questions. Un élément essentiel de tout espace économique est le potentiel humain derrière la technologie. La seconde partie de ce discours aborde ainsi le thème de la formation et de l enseignement à l ère de l IoT, et la transition vers la recherche sur les tendances actuelles et futures à l aide de la conception graphique de systèmes.
Séries des conférences 3 Séries des conférences LabVIEW Software Engineering Les tendances telles que Big Analog Data, l Internet industriel des objets et les technologies connexes ouvrent la voie à des applications de plus en plus complexes. Les discussions de la série de conférences «LabVIEW Software Engineering» portent sur les possibilités et la manière d affronter cette complexité croissante. Grâce aux approches de programmation avancées telles que la POO, les modules de code restent facilement réutilisables et extensibles en dépit de cette complexité croissante. Les approches d ingénierie flexibles, telles que le développement de logiciels par la méthode agile, accélèrent le développement des codes. Les méthodes expérimentales avancées de logiciels telles que Unit Test Framework ou l utilisation de NI Requirements Gateway garantissent des applications plus fiables. Appuyés par divers modules logiciels, les appareils intelligents peuvent être utilisés pour des opérations de surveillance et de configuration. Embedded Control & Monitoring Face au progrès rapide de l Internet des objets et à la pression croissante à acquérir toujours plus avec un budget moindre, de plus en plus de nouvelles technologies font constamment leur apparition dans le monde d aujourd hui. D autre part, les coûts et les risques liés à la réalisation de systèmes embarqués de haute qualité ont aussi augmenté et un grand nombre d entreprises sont à la limite de leurs capacités. La série de conférences «Embedded Control & Monitoring» illustre comment maîtriser les défis actuels présents dans votre entreprise à l aide de présentations d utilisateurs et d exemples concrets de l industrie. Big Data Data Acquisition & Analysis À l ère du Big Analog Data, l importance de données, de la mesure en passant par la gestion jusqu à l analyse, ne cesse de croître. Cette série de présentations explore toutes les étapes de ce processus, en particulier les nouvelles tendances et les innovations technologiques, que National Instruments intègre continuellement dans sa large gamme de produits. De cette manière, nous sommes en mesure de fournir constamment aux utilisateurs de nouveaux champs d applications et des solutions innovatrices. À l aide des présentations sur les pratiques dans l industrie, nous vous donnons un aperçu du développement continu dans le domaine de l acquisition et de l analyse de données. Automated Test Dans un monde où une technologie est dépassée par la prochaine avant même que la première n ait épuisé le marché, les systèmes de mesure et de contrôle doivent déjà être utilisés à leur phase de développement et avant la création des premiers prototypes, afin d optimiser le processus sur toute la ligne. Ainsi, les systèmes devront être flexibles et modulables tout en restant extrêmement précis et hautement performants pour pouvoir réagir aux exigences des clients. L utilisation d une plate-forme matérielle et logicielle modulaire et d une architecture ouverte constitue par conséquent la meilleure possibilité de parvenir au but plus rapidement, mais aussi d une manière plus économique. Cette série de conférences illustre la facilité avec laquelle les systèmes de mesure peuvent être adaptés aux exigences croissantes. RF & Wireless Pour venir à bout des défis que posent les technologies RF et sans fil, les systèmes en réseau de demain nécessiteront une approche plate-forme. Il y aura lieu d intégrer de nouvelles technologies dans des concepts existants et de concevoir de nouveaux systèmes plus performants. Le domaine Software-Defined Radio est d une importance toute particulière. Cette série de conférences illustre à l aide de présentations d utilisateurs et technologiques pratiques du domaine de la recherche et de l industrie comment les systèmes RF flexibles, basés sur une approche définie par logiciel, peuvent être rapidement mis en œuvre et aisément adaptés aux exigences changeantes de notre temps grâce au recours accru à la technologie FPGA et à un développement optimisé des formats modulaires. Academic Teaching Ne manquez pas les présentations concrètes, pratiques et passionnantes de sujets théoriques, tels que les principes de la technique de régulation, par exemple. Cette série de conférences a été conçue pour présenter des concepts didactiques (Massive Open Online Courses, par ex.) et des idées de projets. Profitez de cette occasion qui sera à la fois source d inspiration et plate-forme pour l échange d idées entre collègues. Bénéficiez aussi de l exemple de l un des enseignants les plus expérimentés : Urs Lauterburg, qui se sert de LabVIEW pour enseigner depuis 1991 avec des versions de LabVIEW depuis LabVIEW 2.0.
4 Ordre du jour Ordre du jour 2 mars 2016 08h15 09h00 09h00 10h30 10h30 11h00 Enregistrement Keynote : You and NI Will Create the Internet of Things Today and in the Future Pause café / visite de l exposition LabVIEW Software Engineering Embedded Control & Monitoring Big Data Data Acquisition & Analysis 11h00 11h45 Use #Booksmarks Get Your Review Docs for Free! Daniela Biberstein, Mathias Kubli, Helbling Technik AG A Safety System for Experimental Magnets Based on CompactRIO Sylvain Ravat, CERN Bridging «The Edge» Company-wide Data and Process Integration with Hypertest, DataFinder, and DIAdem Dr. Jan Jacob, Werum Software & Systems AG Stefan Romainczyk, Engineering GmbH & Co. KG 11h45 12h30 LabVIEW meets FDA A Proper Methodology for Testing Medical Devices Domenico Labella, Laurent Chatard, Konrad Technologies Choosing a Software Architecture for Your Next Embedded Application Automated Test Facility for Satellites and Space Probe Components Wolfgang Weisenstein, Matthias Bircher, RUAG Schweiz AG, RUAG Space 12h30 13h30 Pause de midi / visite de l exposition 13h30 14h30 Keynote : Are we Seeing the End of Switzerland as a Location for Industry? 14h30 14h45 Changement de salle 14h45 15h30 What s New in LabVIEW, the Community, and the LabVIEW Tools Network A Time Machine to Protect Future Power Systems Dr. Reza Razzaghi, Andrea Polini, École Polytechnique Fédérale de Lausanne A Selection Guide to Choose the Best Hardware and Software Platform for Dynamic Signal Analysis, Illustrated by Use Cases Stéphane Veste, QMT Group 15h30 16h00 Pause café / visite de l exposition 16h00 16h45 Multi-DUT Test Systems With Parallel Processes Felix Aeschimann, MEquadrat AG Getting the Most out of Your NI Linux Real-Time Target NI CompactRIO-CompactDAQ System for Dynamic Measurements on Hydraulic Turbomachinery Model Testing Dr. Vlad Hasmatuchi, HES-SO VS 16h45 17h30 LabVIEW Goes Smart(phone) Otto Gansner, PI Electronics AG Orion : A Powerful and Compact Multichannel Portable Rotor Dynamics Vibration Measurement System for Turbomachinery Digging Deep Into NI-DAQmx Functions and Property Nodes Steve Gillon, Elstar Elektronik 17h30 18h30 Apéro / visite de l exposition
Ordre du jour 5 Automated Test RF & Wireless Academic Teaching Workshops * Over 125 Years of Railway Technology and a Modern Test System Christoph Märki, Zühlke Engineering AG Spectrum Monitoring and QoS for Mission-critical Radio Communication Constantin Blümel, Decodio AG Connecting Teaching, Research, and Industry Developing SmaRT Real-Time Systems with LabVIEW Real- Time Easily Expand Your Functional Test with In-Circuit Test Based on Only one Platform! Luca Bischof, ad+t AG Prototyping with Software Defined Radio for Industry, Academic, and Defense Applications Integration of myrios in Existing Plants for Classes Prof. Christian Bermes, Hochschule für Technik Rapperswil Introduction to PXI : A Modular Instrumentation Platform Simple but Simpler Software Defined Radio and Channel Emulation : A User Experience Dr. Fred Wagen, HEIA-FR Integrating a MOOL in edx With myrio Dr. Christophe Salzmann, École Polytechnique Fédéral de Lausanne Get Ready for Your CLAD Certification! Big Data Analysis for Manufacturing Test Vidar Gronas, Virinco An Automated EM Phasor Measurement System for Traceable EMC/EMI Near-Field and RF Analysis Experimental Mnemonics Tricks in Teaching Dominik Werne, ETH Zürich Developing Automated Test Systems Beyhan Kochali, SPEAG Sven Kühn, IT IS Foundation Built for Speed : How to Optimize SMUs for High-Throughput Testing Optimize RF Automation With NI-RFmx Controlling an Induction Coil With LabVIEW DAQ Urs Lauterburg, Universität Bern * Nous vous rappelons que les places pour les ateliers sont limitées et que chaque participant doit obligatoirement s inscrire individuellement sur place au comptoir d enregistrement.
6 Exposition Exposition Nouez de précieux contacts 08h15 18h30 Les partenaires du programme Alliance, partenaires produits et intégrateurs de systèmes présentent leurs dernières applications et solutions et leurs derniers produits à l exposition spécialisée qui accompagne le congrès. Informez-vous sur les nouveautés auprès du grand nombre d exposants et échangez vos impressions avec les exposants concernant leurs prestations et leurs solutions stratégiques. LES EXPOSANTS ad&t AG Akademischer Motorsportverein Zürich Aptomet AG Bosch Rexroth Schweiz AG ELSTAR Elektronik AG Helbling Technik AG Ingun AG Prüfmittelbau Kistler Instrumente AG Konplan Systemhaus AG Konrad GmbH maxon motor ag MEquadrat AG Noser Engineering AG PI Electronics AG QMT Group Schmid Elektronik AG Sotronik GmbH Virinco AS Zühlke Engineering AG En décembre 2015 Préparez-vous à la certification CLAD! 14h45 15h30 Partenaire médias Nous vous montrons les sources d erreurs les plus fréquemment observées à l examen CLAD. Apprenez comment lire les questions correctement, comment vous préparer, et obtenez un aperçu des principales fonctions de LabVIEW. A l issue de cette conférence, nous remettrons à chaque participant un coupon pour une certification CLAD gratuite dans un des centres de formation Pearson-VUE associés à notre initiative.
Prestations et conditions 7 Prestations et conditions PRIX BILLET INDIVIDUEL Tarif réservation d avance jusqu au 31 janvier 2016 CHF 195. Tarif standard à partir du 1 er février 2016 CHF 245. Tarif étudiant * CHF 50. Nous vous rappelons que les places pour les ateliers sont limitées et que chaque participant doit obligatoirement s inscrire individuellement sur place au comptoir d enregistrement. PRIX BILLET DE GROUPE (4 POUR 3) ** Tarif réservation d avance jusqu au 31 janvier 2016 CHF 585. Tarif standard à partir du 1 er février 2016 CHF 735. Tarif étudiant * CHF 150. * Ce tarif vaut pour les membres d universités et les étudiants, sauf personnes suivant une formation continue à côté de leur profession. ** Les participants doivent appartenir à une entreprise/école supérieure. Tous les prix indiqués en CHF la TVA en sus. PRESTATIONS La réservation du billet permet au participant de participer au congrès NIDays 2016. Cette visite inclut : Discours d ouverture et conférences professionnelles Accès à l exposition Déjeuner en buffet avec boissons Pause café avec snacks Apéro INSCRIPTION Vous trouverez le formulaire d inscription en ligne sous suisse.ni.com/nidays. Dès réception de votre inscription, nous vous en enverrons la confirmation et la facture (par courrier séparé). Merci de ne pas virer le montant des frais de participation avant réception de la facture. CONDITIONS D ANNULATION Vous pouvez annuler votre participation à cet événement par notification écrite à. Les conditions d annulation sont les suivantes : Annulation jusqu au 14 février 2016 : 50 % des frais de participation. Annulation à partir du 15 février 2016 : 100 % des frais de participation. Toute personne vous remplaçant sera également la bienvenue. Merci de bien vouloir nous en faire part par écrit. VOUS AVEZ ENCORE DES QUESTIONS CONCERNANT L INSCRIPTION? N hésitez pas à nous contacter : Tél. : +41 (0)56 200 51 51 E-mail : ni.switzerland@ni.com TARIF RÉSERVATION D AVANCE Profitez du tarif de réservation anticipée pour un ticket de jour à 195 CHF jusqu au 31 janvier 2016. POURQUOI 20+ EXPOSANTS 30+ CONFÉRENCES ET ATELIERS RÉSEAUTAGE INNOVATIONS SOLUTIONS UTILISATEURS
LIEU DE L ÉVÉNEMENT Kongress + Kursaal Bern AG Kornhausstrasse 3 3000 Berne 25 ORGANISATEUR Switzerland GmbH Sonnenbergstr. 53 5408 Ennetbaden kursaal-bern.ch Tél. : +41 (0)56 200 51 51 Télécopieur : +41 (0)56 200 51 55 E-mail : ni.switzerland@ni.com suisse.ni.com/nidays powered by