Présentation du Département Physique
Présentation Département Physique d ELEXIENCE ELEXIENCE est spécialisée depuis plus de 30ans dans la distribution de matériel scientifique ELEXIENCE commercialise, installe, réalise la maintenance et fournie le support application à nos clients Familles d équipements : microscopes électronique (HITACHI) systèmes de fluorescence-x (SII et RIGAKU) systèmes de diffraction des rayons-x (RIGAKU) accessoires de préparation nécessaires pour ces techniques (Thermo, CLAISSE, ESSA, etc..)
Systèmes d analyse à Fluorescence-X appliqué aux contrôles RoHS Les système de fluorescence-x sont des systèmes d analyse élémentaires très sensibles Dans le cas de l analyse «RoHS» l optimisation des paramètres de mesures pour les éléments Cd,, Hg, Br et Cr permet de vérifier rapidement si l échantillon analysé est conforme aux directives «RoHS» La mise en œuvre est simple : pas de préparation longue, échantillon est directement analysé, pas destructif (généralement)
Systèmes d analyse à Fluorescence-X appliqué au contrôle RoHS Principe d un analyseur fluorescence-x Tube Rayon-X Détecteur Echantillon XYZ motorized stage Spectre avec les raies caractéristiques des éléments présents Analyse de la surface et des zones visibles
Systèmes d analyse à Fluorescence-X appliqué au contrôle RoHS Exemples de limite de détection dans différents matériaux Detection limite 300sec measurements SEA1200VX PVC Laiton Etain Cd Cr Cd Cr 1.0 ppm 0.7 ppm 3.2 ppm 4.3 ppm 11.3 ppm 25.9 ppm 7.5 ppm
Systèmes d analyse à Fluorescence-X appliqué au contrôle RoHS Présentations résultats analyses «RoHS» sur 2 équipements SII SEA 1000A SEA 6000 VX Analyse de petits échantillons, contacts, câbles, prises, etc.. Cartographie rapide de cartes électronique (PCB)
SII SEA1000A et logiciel RoHS Visualisation du SII SEA1000A et de l interface «HS EASY»
Exemples d analyses RoHS
Câble avec une gaine en vinyle Sample image SEA1000A : Exemple de Mesure 1 (plastique et metal combinés) Spectre échantillon complet Spectre de la gaine Br Hg Br Hg Procedure Measure sample as is: is detected Measure sheathing only: is less than quantitative lower limit Quantitative Results Element XRF value: Entire sample 75.4 ppm XRF value: Sheathing only 2.7 ppm
Prise moulée???? SEA1000A : Exemple de Mesure 2 (plastique et metal combinés) Spectrum of entire sample Spectrum of sheathing only Procedure Measure entire sample: is detected Measure sheathing: is detected Analyze by ICP Quantitative Results Element XRF Value: Measure entire sample 196.2 ppm XRF Value: Measure only sheathing 240.2 ppm ICP Value: Measure only sheathing 249 ppm
SEA1000A : Exemple de Mesure 3 (métal avec un coating) Metal component (plated): Example of in Iron( Fe) Sample image Spectrum of sample with coating Cu Sample image with coating removed Ni Cu Spectrum of sample with coating removed As As Tl Mo Procedure Measure entire sample: is detected. Measure sample without coating: is detected. Analyze by ICP Quantitative Results Element XRF Value: Measure untreated sample XRF Value: Measure sample with plating removed ICP Value: Measure untreated sample 1371ppm 2224ppm 1927ppm Plating must be removed before measuring
SEA6000VX : Exemple de mapping d un téléphone portable (1) Téléphone portable : analyse du Plomb, étain, Brome, Cuivre, Nickel, Argent, Antimoine
SEA6000VX : Exemple de mapping d un téléphone portable (2) Téléphone portable : analyse du Plomb, étain, Brome, Cuivre, fer, Antimoine
SEA6000VX : Exemple d une carte électronique (PCB) Carte électronique : analyse du Plomb et Brome
La technique de fluorescence-x est : Simple d utilisation N est pas une technique destructive Conclusions Ne nécessite pas de préparation particulière de l échantillon Permet de contrôler des échantillons de formes diverses Les systèmes SII peuvent être placé facilement dans un laboratoire d analyse commun ou centralisé (nécessite uniquement une prise de courant) Les équipements SII peuvent faire sans modification de l analyse «RoHS», de la «métallurgie» ou tous types d analyses élémentaires
MERCI de votre attention