Nouveautés de la version Nouveautés :

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1 Nouveautés de la version 4.30 Nouveautés : - "TH_CAD_View" : Le visualiseur de CAD et de schemas TH_JTAG - "TH_Checksum" : Calcul du checksum des fichiers de programmation pour TH_JTAG - "Station de Test Portable" : inclus le kit de développement pour la station portable nouvelle génération Améliorations/corrections de bugs : * TH_BDD V2.76 : générateur de bases de données carte - meilleur analyseur syntaxique des équations THK, - gestion des LocalModif pour test liaisons et mémoires, - gestion des titres des fonctionss de test du module0, - modification du nom des THB en nouvelle release. * TH_BSDL V1.67 : translateur BSDL vers THC - correction lecture instructions (avec plusierus opcode), - gestion des instructions Active_Disengage pour les Cyclon3, - gestion COMPLIANCE_PATTERN avec des cellules vectorisées, * TH_BDO V2.34 : générateur de bases de données carte - ajout pour THSVF (POD autonome Le Haillan) d'un tms_reset avant chaque test, - gestion des EEPROM en groupe, - gestion des composants Latch sur le bus d'adresse d'une SRAM, - Warning sur les composants JTAG n'ayant pas de registre boundary, - qualification possible des messages Errors,Warnings,Informations, - création d'un fichier de documentation (liste des fonctions de test), * TH_TEST V1.41 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - gestion des broches testées pour des mémoires EEPROM, - fonction de test (accés écriture/lecture) des mémoires I2C, SPI et MicroWire, - améliore les messages d'erreur sur le test des mémoires SDRAM, - correction de la fonction TEST pour une mémoire FLASH (multi-tap), * TH_ISP V1.74 : exécution des fichiers JAM et SVF - fichier de debug sur le calcul de délai (choix RunTck / delay), - en SVF, pour une commande RunTest inférieure à 1000 TCK, la fonction RunTck est exécutée (personnalisable dans le fichi_er INI 'NbTckClock'), * DLL_GCAT V2.51 : concaténation de bases de données CAO - récupère les informations du fichier FabMaster Device.ASC, - format fichiers créés toujours en VALID, * BRD_WIN V4.30 : template du séquenceur d'exécution des fonctions de test - sur bouton HELP : version du générateur automatique, - écriture dans les fichiers rapports 'Flash_rpt.txt' et 'Isp_rpt.txt' du CRC des fichiers de données chargés (valeur caractéristique),

2 Nouveautés : - "Virtual JTAG" : Voir la section sur "comment développer en Virtual JTAG" - "TH_CAD_View" : Le visualiseur de CAD TH_JTAG - "Station de Test Portable" : inclus le kit de développement pour la station portable Améliorations/corrections de bugs : * TH_BDD V2.74 : générateur de bases de données carte - gestin des broches OUT en 'open collector', - amélioration gestion broches BSDL Compliance_Pattern, - protection avec message d'erreur sur des fichiers DAT incohérents, * TH_BDO V2.29 : générateur de bases de données carte - définition des connecteurs JTAG dans la base de données THK, - message erreur sur mémoire FLASH avec JTAG manquants sur ADDR 0..12, DATA 0..7, - amélioratin des messages d'erreur sur les broches Compliance des JTAG, - ajout d'une liste des équipotentielles ayant une broche JTAG, - gestion de cellules JTAG différentielles pour les mémoires DDR2, - gestin des conflits pouvant être générés par une test liaisons, - indique dans Warnings.RPT les broches refusées car générant un conflit sur d'autres équipotentielles, - correcti0n sur le choix d'une broche JTAG pour un test mémoire, - ajout de commentaire sur le test FIFO pour une horloge permanente, - cherche sur toutes les équations THK de traversée, celle qui donne un JTAG, - ajoute dans LBT les broches JTAG (TCK,...) jusqu'au connecteur, - signale un composant JTAG ayant une fréquence TCK trop faible, - signale plusieurs boucles JTAG secondaires dans un TAP (chemin TDI/TDO complexe), * TH_TEST V1.39 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - gestion d'un composant LATCH pour une FLASH ancienne (pas de mode Unlock-Bypass), - ajoute un test de 0 rampant sur les adresses d'une mémoire SDRAM, - création du fichier d'export pour le viewer TH_VIEW_CAD, - écriture FLASH sans 'Pulling DATA7' aprés 25 données écrites, - correction test des composants FIFO, - création du fichier THD (TH_DEBUG) pour les mémoires, * DLL_GCAT V2.50 : concaténation de bases de données CAO - gestion des fichiers DAT créés en dehors de VALID, * TH_COUV V1.26 : calcul du taux de couverture de la carte sous test - correction d'une violation du logiciel, * TESTJTAG.DLL V4.20 : template du séquenceur d'exécution des fonctions de test - pouvoir utiliser les ressources numériques ET analogiques d'une IOBOX analogique, * BRD_WIN 2.02 : Séquenceur de test : - Correction du bug des leds de résultat - Correction de la disparition de la fenetre de stimuli * THBWIZZARD 1.05 : Gestion de la boucle JTAG - Fenetre verte si la boucle JTAG est OK, rouge sinon

3 Nouveautés : - "TH_CONFIG" : Gestionnaire de configuration - "TH_GCAT" : Nouveau logiciel de fusion de netlist - "TH_LICENCE" : Nouveau systeme de licence - "THK_LIB" : Nouvelle gestion de la base de données THK - "TH_HELP" : Amélioration de la documentation - Portail utilisateur avec gestion de séquences "user define" ( Super Séquence ) - FLASH : Gestion de la gamme complete des mémoires series ( I2C, SPI, MICROWIRE ) - FLASH-Latched : Gestion des flashs avec buffers latchés - TESTJTAG.DLL : Amélioration du template applicatif - POD AUTONOME : Gestion des séquences SVF pour le pod Autonome THAV le Haillan - TH_DEBUG : Lancement de la séquence KO du programme de test avec TH_DEBUG - ISP : Intégration d'un module IP pour composants Cyclone permettant un téléchargement rapide des mémoires EPCS - TRAINING KIT : Kit de formation téléchargeable sur le site internet de th_jtag ( ) Correctifs : - Meilleure gestion du compilateur "Visual C++ Express" ( arret si probleme dans la génération de la DLL de test ) - Touche "arret utilisateur" fonctionnelle lors de la compilation d'un projet TH_JTAG - Amélioration de l'intégration du controleur PCI-Express * TH_BDD V2.73 : générateur de bases de données carte - correction génération brd_mod0 pour les composants sur TAP4 et plus, - sur un composant SRAM, le port 'MODE' est géré comme le lablel 'ZZ' (valeur d'init), - analyseur syntaxique sur le fichier 'projet.csv', - en FabMaster, on ne fixe plus les alimentations (proposition dans UPD), - dans fichier THK, gestion des mots clefs : ERASE_TIME_OUT, LATCH, - enlève les caractères non alpha-numérique dans les labels d'un THK, - dans le cas d'un composant sur plusieurs boucles JTAG (SPL), ne génère plus ce composant en doublon dans la partie DEVICE d'un fichier THB, - gestion de la clef BOM_IGNORE dans le fichier Pstxprt.dat (composant non implanté), - allume les LED lors dut test dans l'ordre du fichier UPD, - vérification de la cohérence entre le PACK CAO et le fichier THK associé, - cherche les fichiers THK dans la base ATDM_THK.BDD fournie, avec possibilité d'en ajouter dans la base USER_THK.BDD, * TH_BDO V2.22 : générateur de bases de données carte - génère une erreur en cas de conflit entre une broche HOLD_1 ou0 et une autre broche, - ajout de la fonction TEST pour une mémoire FLASH (pour les adresse >12), - génération du warning 'pas d'équation valide' uniquement dans le Safety, - vérification du connecteur JTAG (si le type est connu), - DFT voir rapport TUG 2010, - génération du fichier THSVF pour le PodAutonome, - test des SENSE et POWER avec un chemin de test éventuel (cavalier,...), * TH_TEST V1.37 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - calcule la testabilité sur les broches non connectées, - création d'un masque SCAN_IR pour la génération d'un fichier SVF, - affiche un témoin de progression pour les fonctions des mémoires, - génération d'un fichier pour TH_DEBUG en cas d'échec du test, - gestion de préfixes des composants pour l'affichage des messages d'erreurs, - pour mise au point manuelle, création d'une fonction SearchOneDataInFlashEprom, * TH_JTAG V2.25 : organisation des objets board, component et bus - méthode pour récupérer le mode de test d'une broche (Direct ou Inverse),

4 * DLL_GCAT V2.49 : concaténation de bases de données CAO - les fichiers CAO ne sont plus obligatoirement dans un environnement TH_JTAG, - la concaténation de fichiers VALID et FabMaster donne des fichiers VALID, - il n'existe aucune notion de connexions, * TH_ETC Vx.xx : gestionnaire de testabilité carte électroniques - ajoute un drapeau 'true' pour le test JTAG quand au moins une broche est testée en liaisons, * TH_COUV V1.25 : calcul du taux de couverture de la carte sous test - correction du calcul des broches non connectées, - correction des préfixes à enlever du calcul, * BRD_WIN V4.10 : template du séquenceur d'exécution des fonctions de test - fenêtre DispInfo plus grande, - vérification du CRC d'un fichier données, lors de la vérification de sa présence, - possibilité dans le fichier INI de ne pas relacher les composants JTAG entre les différentes fonctions de test (cas d'un porcesseur présent), - sélection par une entrée INI des préfixes des composants à afficher,

5 Hardware : : Contrôleur PCI Express : Module IOBOX Analog Mux 40 ( 40 inputs analogiques ) : Contrôleur USB2.0 lite : Kit de formation TH_JTAG ( Hardware + software ) Software : THK+ Production TH_IDE : Programmation de type basic pour les clusters de type non JTAG : Nouveau portail de production avec plusieurs degrés de gestion des programmes : Nouveaux wizards TH_VIEW3 : Un th_view graphique plus adapté aux besoins de dépannage ( regéneration de schemas ) Evolution du CD-ROM 4.01 (03/2010) : * TH_BDD V2.71 : générateur de bases de données carte - correction génération brd_mod0 pour les composants sur TAP4 et plus, - sur un composant SRAM, le port 'MODE' est géré comme le lablel 'ZZ' (valeur d'init), - analyseur syntaxique sur le fichier 'projet.csv', - en FabMaster, on ne fixe plus les alimentations (proposition dans UPD), - dans fichier THK, gestion des mots clefs : ERASE_TIME_OUT, LATCH, - enlève les caractères non alpha-numérique dans les labels d'un THK, - dans le cas d'un composant sur plusieurs boucles JTAG (SPL), ne génère plus ce composant en doublon dans la partie DEVICE d'un fichier THB, * TH_BDO V2.20 : générateur de bases de données carte - génère une erreur en cas de conflit entre une broche HOLD_1 ou0 et une autre broche, - ajout de la fonction TEST pour une mémoire FLASH (pour les adresse >12), - génération du warning 'pas d'équation valide' uniquement dans le Safety, - vérification du connecteur JTAG (si le type est connu), - DFT voir rapport TUG 2010, - génération du fichier THSVF pour le PodAutonome, * TH_TEST V1.37 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - calcule la testabilité sur les broches non connectées, - création d'un masque SCAN_IR pour la génération d'un fichier SVF, - affiche un témoin de progression pour les fonctions des mémoires, - génération d'un fichier pour TH_DEBUG en cas d'échec du test, - génération d'un fichier relatant les broches mises en jeu au cours du test, * TH_JTAG V2.25 : organisation des objets board, component et bus - méthode pour récupérer le mode de test d'une broche (Direct ou Inverse), * DLL_GCAT V2.48 : concaténation de bases de données CAO - les fichiers CAO ne sont plus obligatoirement dans un environnement TH_JTAG, - la concaténation de fichiers VALID et FabMaster donne des fichiers VALID, - il n'existe aucune notion de connecxions, * TH_ETC Vx.xx : gestionnaire de testabilité carte électroniques - ajoute un drapeau 'true' pour le test JTAG quand au moins une broche est testée en liaisons, * TH_COUV V1.25 : calcul du taux de couverture de la carte sous test - correction du calcul des broches non connectées, - correction des préfixes à enlever du calcul, * BRD_WIN V4.01 : template du séquenceur d'exécution des fonctions de test - vérification du CRC d'un fichier données, lors de la vérification de sa présence, - possibilité dans le fichier INI de ne pas relacher les composants JTAG entre les différentes fonctions de test (cas d'un porcesseur présent),

6 Evolution du CD-ROM 4.00 (1/2010) : * TH_BDD V2.70 : générateur de bases de données carte - exécution module2 (ISP, SRAM,...) dans l'ordre du fichier UPD, - en FabMaster, les labels d'un THK sont limités à 30 caractères, - le registre d'instruction d'un composant JTAG n'est plus limité à 32 bits, - message d'erreur en cas de duplication des labels dans un registre boundary, - dans un fichier THK, explicite un type parmi SPI, I2C ou MICROWIRE, - définition d'un composant de type LATCH pour la programmation mémoires, * TH_BDO V2.18 : générateur de bases de données carte - uniformité du fichier de qualification pour la vérification des upgrade, - correction génération pour une résistance reliée sur elle même, - Informations.RPT contient les broches mises en HOLD du fait d'un contrôle global, - correction violation pour les labels 'PortName' trop long, - gestion d'un composant LATCH avec des mémoires FLASH groupées, - toutes résistances dont la valeur est inconnue deviennent un court-circuit, - gestion des composants mémoires double port, - génération d'un warning pour une mémoire avec un label WE (sans doute NWE), * TH_ISP V1.71 : exécution des fichiers JAM et SVF - correction de l'avance du BarGraph pour la programmation d'un Cyclo3, - possibilité de ne pas vérifier le nombre de cellules pour un ISP sur une boucle complète, - en SVF, change la fréquence TCK si demandé, - en SVF, replace la fréquence aprés exécution, * TH_TEST V1.36 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - la fonction CheckRamStatic a un paramètre de plus (delai) optionnel, - correction de la fonction Erase Flash Intel, - correction du message d'erreur sur le test d'une mémoire Sdram_DD2, - correction de la gestion FLASH avec un bus de données sur plusieurs TAP, - correction du décalage dans la programmation d'une mémoire EEPROM, * TH_JTAG V2.24 : organisation des objets board, component et bus - augmentation de la variable Instruction pour accepter plus de 32 cellules, * TH_GCAT V2.48 : concaténation de bases de données CAO - correction de la possibilité dans EWL de connecter une broche plusieurs fois, * BRD_WIN V4.00 : template du séquenceur d'exécution des fonctions de test - le fichier INI n'utilise pas par défaut le NO_TDO dans les Scan JTAG,

7 Evolution du CD-ROM 3.93 (7/2009) : * TH_BDD V2.68 : générateur de bases de données carte - un composant associé au fichier 'compo_hz.thk" a toutes ses broches 'I', * TH_BDO V2.16 : générateur de bases de données carte - correction de la génération d'un groupe de mémoires FLASH, - Evolution du CD-ROM 3.90 (1/2009) : * TH_BDD V2.64 : générateur de bases de données carte - gestion des composants Sdram_DDR2, - extraction des broches 'compliance' des fichiers BSDL, - extraction pour les résistances de 'VALUE' dans le fichier PstXprt.Dat, - correction sur fichiers BSDL des cellules de contrôles unique, - extraction de la valeur initiale à fixer pour les cellules input d'un BSDL, - gestion BSDL des signaux différentiels avec 2 cellules JTAG, - message d'erreur si IDCODE dans fichier BSDL, mais pas d'instruction, * TH_BDO V2.11 : générateur de bases de données carte - reprise de l'algorithme de recherche de broches JTAG pour les mémoires, - correction de la fonction SaveData pour une mémoire I2C, - création du fichier TH_COUV_BDO.ETC (broches testées pour TH_ETC), - pas de test liaisons mettant en jeu les broches JTAG (TCK,...), - ajoute les broches COMPLIANCE dans les fichiers rapport, - correction de la traversée des résistances de faible valeur, - correction des messages Warning, * TH_ISP V1.67 : exécution des fichiers JAM et SVF - gestion du fichier INI du projet sous le répertoire EXE, * TH_TEST V1.30 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - correction fonction CheckRamStatic avec un bus de données sur plusieurs TAP, - fonctions de test des mémoires Sdram_DDR et DDR2, * TH_JTAG V2.22 : organisation des objets board, component et bus - méthode de création d'un bus sans indiquer le nombre de paramètres, * TH_GCAT V2.45 : concaténation de bases de données CAO - en mode CAO, les connecteurs sont écrits dans le fichier EWL et non plus dans les fichierd DAT, - la réunion des connecteurs est concervée dans un envirronnement non_th_jtag, * TH_ETC Vx.xx : gestionnaire de testabilité carte électroniques - fichier du générateur automatique (type CSV) sur la nombre de broches testées par composant, * TH_COUV V1.23 : calcul du taux de couverture de la carte sous test - gestion du fichier INI sous le répertoire EXE du projet, * DISP_MSG V2.28 : gestionnaire des messages d'erreur - correction des allocations mémoires,

8 Evolution du CD-ROM 3.92 (5/2009) : * TH_BDD V2.67 : générateur de bases de données carte - surécrit le fichier THB en cas de changement dans la boucle JTAG, - largeur de bus pour les composants SPI, - correction de la génération si plusierurs composants I2C, - pour Sdram_DDR 8 bits, reconnaissance des ports RDSQ au lieu de LDSQ et UDDS, - gestion des composants EEPROM type 28LCxx, * TH_BDO V2.15 : générateur de bases de données carte - création d'un fichier rapport sur le test possible des connecteurs, - accepte le type 'output2' pour les I2C et SPI lors de la recherche d'une broche JTAG, - possibilité de la commande SENSe sur une broche non connectée, - renseigne le titre de la fonction FLASH avec tous les repères mémoires, - correction en n'utilisant plus les broches Safety dans les test de liaisons, * TH_GCAT V2.47 : concaténation de bases de données CAO - gère les instructions CLAMP et les registres d'instruction supérieure à 32 bits, * TH_HEXA V1.03 : gestionnaire de fichiers à télécharger MOTOROLA - n'enlève plus les données à FF, Evolution du CD-ROM 3.91 (3/2009) : * TH_BDD V2.65 : générateur de bases de données carte - gestion du composant SPI, - le port d'adresse est nommé ADDR et non plus A pour une meilleure vérification, - correction du calcul du CRC pour les composants JTAG, * TH_BDO V2.12 : générateur de bases de données carte - gestion de la mémoire Sdram_DDR2, - dans Mod2, les composants non utiles sont mis en CLAMP (si existe), - les broches COMPLIANCE sont positionnées dans le Safety, * TH_ISP V1.69 : exécution des fichiers JAM et SVF - mise à jour avec le JamPlayer 2.3 modifié pour ACTEL, * TH_TEST V1.32 : exécution des fonctions de test bus et mémoires - correction de la fonction SaveData pour une FLASH en mode binaire, - gestion fichier TEXTE (Adresse, Donnée) pour toutes les mémoires programmables, - amélioration de la fonction SaveData d'une FLASH par anticipation de l'adresse +1, * TH_COUV V1.24 : calcul du taux de couverture de la carte sous test - compte les broches testées en intégrité et non connectées,

9 Hardware : : Pod JTAG USB 2.0 : Module IOBOX avec ressources numériques ( 200 I/O programmables ) et analogiques ( 8 canaux DAC et 8 canaux ADC ) Software : TH_MOD2 DFT/Production TH_IDE : Programmation de Flashs en parallèle : TH_DFT / aide au Design For Test Boundary Scan : Ajout de TH_VIEW II dans le programme de test : Nouvelle interface de compilation : Nouveaux wizards COMPILATION : Intégration de Microsoft Visual 2005 ( Version professionnal )

10 Hardware : : Pod JTAG USB 1.1 : Pod JTAG IEEE1394 ( FireWire ) Software : TH_JTAG : Tap ( jusqu'à 8 TAPs ) : Multi-Contrôleurs ( utilisation de plusieurs contrôleurs Hardware pour le même test ) : Contrôleurs dynamiques TH_MOD2 DFT/Production TH_IDE : Programmation de Flashs en parallèle : Nouveau diagnostique plus précis : Ajout de TH_VIEW II dans le programme de test : Nouvelle interface de TH_IDE : Initialisation du projet plus simple : Nouvelle Interface de configuration des contrôleurs : TH_VIEW II plus convivial : Historique de génération : Propriétés des fichiers dans TH_IDE : Packageur de portail utilisateur : Nouveau Wizard de changement des paramètres de test de l'application : Vérificateur de THK ( lors de la modification ) : TH_KLIB pour obtenir les nouveaux THK TH_IDE TH_BDD TH_MOD1 TH_MOD2 TH_TEST TH_ISP : Fermeture de TH_IDE lors du lancement du compilateur avec rapports ouverts : Fix du fichier BDD1 en 16 bits : Fabmaster avec TypeCao non renseigné par la lecture TH_BSDL ( si un label apparaît plusieurs fois dans le registre boundary ) : Safety_state avec configuration JTAG-Résistance et DIR de buffer uni-directionnel ( valeur positionnée sir le signal DIR incorrecte) : Correction de la vectorisation des cellules 'enable' : Séquenceur d'action sur FLASH en mode IHM : Correction de la valeur à positionner sur certains signaux du bus de contrôle : Correction lecture fichier Code-S avec adresses impaires : Correction de la fonction «LoadFastFlashEprom» avec groupe de 4 mémoires : Correction de la lecture du fichier binaire avec une donnée de trop : Pas de vérification CRC d'un fichier JAM si elle n'existe pas

11 IDE HELP TH_INIT TH_BDD TH_MOD2 TH_GCAT SYSTEME PORTAIL DE TEST TH_DEBUG : Drag an drop des fichiers CAO et BSDL dans TH_IDE : Rajout et gestion d une section download pour les fichiers des composants programmables. : Wizard de gestion des paramètres du brd_win : Gestion du projet par «makefile» ( rapidité de regénération en cas de non modification ) : Wizard THB : Wizard EQU : Wizard UPD : Aide en ligne et recherche de mots clef : Vidéo de training pour la génération automatique : Instanciation d une carte sur TAP1 uniquement : Rajout de mots clef PWR et GND : Traversée de plusieurs résistances pour le MOD2 : Mergeur de Netlist avec 2 cartes identiques : Bilinguisme total du programme de test : Fonction user au début et a la fin de chaque fonction : SVF avec masque : Contrôleur PM3705 : Intégration du portail utilisateur dans l IDE : Packager de portail : Déboggeur graphique interactif TH_IDE TH_MOD1 TH_INIT : Rafraîchissement des rapports dans TH_IDE : Problème de compilation du programme sous forme DLL : Problème de génération avec les cellules de contrôle global de composants JTAG : Arrêt du projet si pas de compilateur SYSTEME : Nouveau Driver Jungo ( full compatibilité ) TH_BSDL : Gestion de plusieurs cellules Input attachées à la meme broche dans un fichier BSDL

12 IDE TH_GCAT TH_INIT TH_ETC HELP : Th_jtag intègre maintenant un environnement de développement intégré : Mergeur de NetLists : il est aujourd hui possible de fusionner des cartes mères et des cartes filles, et d effectuer un test JTAG sur l ensemble. : Th_jtag gère maintenant les noms longs (noms supérieurs à 8 caractères) : Estimation du taux de couverture, tout testeurs confondus : Merge des manuels d'utilisation de TH_JTAG ou conversion du MU en format CHM ( look Microsoft ) SYSTEME : Drivers MJTAG et Centronics Multi-OS ( Win9x, NT, 2000 et XP ) : Passage des outils Th_jtag en 32 bits : Conversion des librairies SFL en DLL (changement de contrôleur sans recompilation ) TH_ISP TH_MGR TH_BDD TH_MOD2 TH_JTAG WINLIB : Gestion des composants LATTICE : Ajout d'un indicateur visuel si erreur de translation : Recherche de plusieurs pack dans le fichier BSDL / correspondance CAO : Gestion des composants SRAM ZBT automatique : Recherche de commandes derrière un buffer désactivé : SCAN spécial pour diagnostiquer une boucle rompue en milieu de test : Utilisation du TAP1 sans se servir du TAP0 : Mémorisation de la dernière ligne de la Winlib32 : Ajout du numéro de version du programme dans les fichiers ERR, HST et EFR TEXTWIZARD TH_BDD/TH_BSDL TH_MOD1 : TextWizard ne corrompt plus le fichier brd_ihm.srx : Il est maintenant possible d avoir plusieurs cellules de INPUT rattachées à une même broche ( description BSDL ) : Bug sur la vectorisation de cellules éliminé TH_MOD2 : Th_mod2 ne génère plus de bus vide lorsqu un signal n existe pas ( TRST, OE. ) WINLIB : Bug gestion de l heure dans les fichiers ERR et HST : A chaque utilisation, la Winlib efface les fichiers ERR et HST SFL_PCI : Le 5V ne repasse plus à 3.3V lors d un reset du POD ( TRST )