Principe de fonctionnement du microscope électronique TEM Microscope électronique à transmission (TEM) Ce microscope est composé d une source d électrons, de lentilles qui dirigent ces électrons vers l échantillon (condenseurs), le porte échantillon, d une première lentille agrandisseur (objectif), de plusieurs lentilles intermédiaires et d une lentille de projection Source d électrons: fournir un faisceau électronique accéléré de 50 kv à 300 kv avec une dispersion en énergie de l ordre de 10-6 Condenseur: (1) diriger les électrons vers l échantillon (2) contrôler la convergence du faisceau Échantillon: épaisseur < 0,5 µm (transparent au faisceau électronique) Objectif: ce sont les aberrations de cette lentille qui déterminent la limite de résolution du µcroscope. Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (1)
Principe de fonctionnement du microscope à projection Field emission projection microscopy: lensless microscopy no lens aberrations magnification M D/d, M 10 6 for D 10 cm, d 100 nm Radial source: the nanotip: coherent e-beam Fresnel diffraction amplitude & phase microscopy low-energy ( 300 ev) high contrast microscopy atom-size source 1 nm resolution (amplitude Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (2)
Experimental set-up nanotip vs object: 5 degrees of freedom mechanical displacements: PZT based motors with nm resolution absolute calibration projection screen: MCP & fluorescent screen in-situ nanotip fabrication and regeneration ( 15 min duration ) Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (3)
Image formation : Huygens-Fresnel integral Φ(I) = (ia/λρ) (exp(ikd)/d) σ f(x,y) exp(-(ik/2ρ) [(x-x 0 ) 2 +(y-y 0 ) 2 ] dx dy with the intensity at the projection screen = Φ.Φ * (exp(ikd)/d) radial projection of the object σ f(x,y) exp(-(ik/2ρ) [(x-x 0 ) 2 +(y-y 0 ) 2 ] dx dy diffraction fringes f(x,y) = exp [-a(x,y) + ib(x,y)] = complex transmission function of the object * a(x,y) = attenuation factor amplitude object a = opaque object a = 0, b=0 free opening * b(x,y) = phase shift factor phase object a = 0, b 0 pure phase objects (for magnetic and electric fields the phase shift ξ ξ = (e/ħc) V dt (e/ħc) B ds ) Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (4)
FPM Image formation : amplitude object FPM image of the same C- MWNT ( 300 V) TEM image of C-MWNT, φ 26 nm (200 kv) Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (5)
FPM Image formation : amplitude object Single ARN fiber A connection between several ARN fibers Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (6)
FPM Image formation : amplitude object Resolution parameters : Electron doses, brightness Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (7)
FPM Image formation : amplitude object Resolution parameters : Electron doses, brightness Source size limit Estimation from consideration of geometrical overlap casting area for the limit of the geometrical resolution g g source diameter Resolution limit by diffraction In presence of diffraction fringes the localization of the geometrical projected edge can be achieved within a distance equal to ½ the width of the first bright fringe. The resolution limit D, (d is the distance between the source and the object) D ½ (λ d) 1/2 consequence: nanometric resolution can only be achieved for high magnification FPM observations. Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (8)
FPM Image formation : amplitude object Observations of carbon nanotubes (multiwalled) TEM image of a C-MWNT with φ 28 nm (400 kv) FPM images of the same C-MWNT Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (9)
FPM Image formation : amplitude object Sucking-in process Experimental observations with a C- nanofiber Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (10) Theoretical quantum calculations with a C- SWNT (φ = 1.4 nm) ref. Adessi et al. PRB (2001)
FPM Image formation : phase object (electric field) Observations of carbon nanotubes (multiwalled) TEM image of a C-MWNT with φ 28 nm (400 kv) FPM images of the same C-MWNT Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (11)
FPM Image formation : phase object (electric field) Periodic localized electric field along a PMMA fiber Localized electric field at a junction of a PMMA fiber Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (12)
FPM Image formation : phase object (magnetic field) Fe-oxide magnetic nanoparticles NaCl nanoparticle Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (13)
FPM Image formation : phase object (magnetic field) Fe-oxide magnetic tip, FPM image Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (14)
FPM Image : object reconstruction Concept: relating the scattered intensity to the sample potential energy in the Green s-function formalism and solving the corresponding linear system of equations by a singular values decomposition. The scattered wave function is reconstructed iteratively to match the given intensity. A. Mayer and J.P. Vigneron (PRB 62(3) 16023 (2000); PRB 63(3) 35408 (2001)) 2-D object Object reconstruction Fpm image Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (15)
FPM Image : object reconstruction Electronic diffraction tomography approach A. Mayer and J.P. Vigneron (PRB 62(3) 16023 (2000); PRB 63(3) 35408 (2001)) Object reconstruction layer per layer 3D object potential energy distribution Layer 0 nm Layer - 0.1 nm Layer 0.2 nm Polytech-Lyon / Matériaux 5è année (2012-2013) (16)