07-24 Physics, Atomic, Molecular, and Wuclear

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1 07-24 Physics, Atomic, Molecular, and Wuclear r fniropie, Nnv.-Unc. IBU'I. n..hi 311. It ink Study (if n thiirin:if MiiitiiiMiliii lurnm rnii-ii'dliy n pnl-.iid "Inchon llttiillt tft Hli»lil««umillttl fi»l'll«l( IidfjMittfill. jlti'ilimlj, mill ntfl'ilrrll molecules which are resolved by time-ut liiyhl. I lie uxuted bjibi.ies are detected by secondary electron emission from a metal surface. HI?S) Mloms IIMVII Imnn I II I:I:IIM limn liydin( i>n, water, ammonia, and several hydrocarbons. Excited lr;mmenl!; lioin tho halo'iens ftitvc hnnn resolved. Values o( kinetic nncryy and estimates of threshold i<nm(jinn m«ifi )iirtbd. laiilhoi) A // DEVELOPMENT AND STUDY OF A CESIUM JET (REALISA- TION RT RTUIJfi D'UN JIT HI" CHIIIIM). Ch. Millnt and J. Millet (Aix-Miii«'illi>, Univni'ilii. Mainnllln. I iiiiici'1. (SYMPOSIUM INTERNATIONAL SUR LES JETS MOLEi;nt Aini'n t)f HAITI i n nr wirivrmni' PNFnniF, PND, C'.ANNCH. ("HANOI:, JULY I <l, I mill, I'll! u:i I I ilnilm, i /I'.' hit.) Entropie, Nov.-Dec. 19G9, p rets. In Fiench. (For abstract see issue 19, page 3376, Accession No. A ) A // CHARACTERIZATION OF MULTICHANNEL SOURCES AND THEIR UTILIZATION IN MOLECULAR BEAM SYSTEMS. D. R. Olander and R. H. Jones (California, University, Berkeley, Calif.). (SYMPOSIUM INTERNATIONAL SUR LES JETS MOLE- CULAIRES DE HAUTE ET DE MOYENNE ENERGIE, 2ND, CANNES, FRANCE, JULY 1-4, PROCEEDINGS, p ) Entropie, Nov.-Dec. 1969, p refs. (For abstract see issue 19, page 3376, Accession no. A ) A I! A 4 TO 200 ev NEUTRAL MOLECULAR BEAM. R. 0. Doughty (Gnnnrjil Dynamics Corp., Fort Worth, Tex.) and W. J. Schaetzle (Alabama, University, fuso-mousa, Alii.). (SYMPOSIUM INTERNATIONAL SUR LES JETS MOLE- CULAIRES OF HAUVF ET DE MOYC-NNE ENERGIE, 2ND, CANNES. FRANCE, JULY 1-4, I!)IH). PROCEEDINGS. >. B1-G7.) Entropie, Nov.-Dec. 1969, p rets. (For abstract see issue 19. paqe 337G, Accession no. A ) A i! DEVELOPMENT OF APPARATUS FOR OBTAINING MOLEC- ULAR BEAMS IN THE ENERGY RANGE FROM 2 TO 200 nv (REALISATION D'UN APPAREIL PERMETTANT D'OBTENIH DES JETS MOLECULAIRES D'ENERGIE COMPRISE ENTRE 2e ET200eV). F. M. Devienne, J. C. Roustan, A. Roustan, and R. Clapier (Laboratoire de Physique Moleculaire des Hautes Energies, Peymeinarie. Alpes-Maritimes, France). (Symposium International sur les Jets Moleculairos do Haute ot do Moyenne Energie, 2nd, Cannes, France, July 1-4, Entropie, Nov.-Dec. 1969, p In French. In this paper, wo discuss aboul the formation nnd detection of molecular bearns, obtained by charge exchange from an ion-source ol low energy. After the measurement ot tne dispersion in energy of the ion-source, we have study the problems concerning the detection of neutral beams. Different methods have been used, and, specially, the secondary electronic emissivity of a metallic surface; the ioniz;i!ioi> of a gas target having a low ionisation voltage. By the use of a tubular electron multiplier and a lock in amplifier, we have measure the intensities of neutral beams, as low as 10 ev. (Author) A // HIGH ENERGY ATOMIC BEAMS, OBTAINED BY MEANS OF CATHODE SPUTTERING. V. K. Koshkin, lu. A. Ryzhov. and B. A. Shvedov (Moskovskii Aviatsionnyi Institut, Moscow. USSR). (Symposium inrcrnatinnaf sur fas Jr;ts M(ttdcutaircs df! Haute et fit: Moyenne Energie, 2nd, Cannes, France, July 1-4, 1969.) Entropie, Nov.-Dec p. 58, 59. Discussion of a method for obtaining high energy atomic beams by the sputtering of solids by ions with'energies from 1000 to ev. A sketch of the device used is presented and the measurement of lln< imii'iinlly nl UK' liumn Hi «iiilliiliul iiliiini h.llni'lhm'll A nni" nl Ilitihl uilmlinti disk mipninlin w.-n used In nlitnlll the A7D // REFLECTION OF CONDENSED MOLECULAR BEAMS OF HELIUM A'l SOLID SUIII : ACnS. E. W. Bcckci, J. G-.paim (Karlsruhe. Technisclie Univomlfli K.'Ml'.iiili'j, W'.'M i M'tiD.-'iiy). and 0. Kiieif (Karlsruhe, Kornfnrschung*' /minimi, KinNiiiliH, Wi"ii (iniiiiiiny). (Symposium Intvru.'iliitual sur tus Juts Moltfculiiiins tin Haute at do MnyrniiK Encrgin, 2nd. Cannes. France, July 1-4, 1969.) I mm/in.', Nnv -dec. IfKifl, p. (if) Ot. Mi'nqlllf'ltli'lll nl Ml" if'llw.'lilhh'l f.'i'tlllr'llfjllll lll'lll'f'mlrll llrtflmllfl' helium at polisln.'d sl.-iinless stc'ol using liine-ol-llii lil inelbuils. Al en fim le ol incidence nl R5 (let), measured from the surface normal. Ihiii HIM iiiiu"! IHIIII 'till In Kill K i;midnd Ihp ilirpr.linn nl the idftected (in,mi in shut from li'j In tt'j il«u diiyiu nl it>llui:nnn, ihninh» increasing the maximum reflected flux from 1 to 11 per cent of the incident flux. The velocity of the reflected clusters was always higher. limn Ihiii nl Hie incident onfis, the litclnr heinp, 1.12 at 310 K and 1.02 at 130 K tiiiyut tumpuioturo. Si/.es ol bulh incitlutil itnd reflected clusters were found to be of the order of 100,000 atoms/cluster. (Author) ' A !! * ON THE INTERACTION OF HYPERTHERMAL POTASSIUM ". ATOMS WITH A TUNGSTEN SURFACE. C. A. Visser, J. Wolleswinkel, and J. Los (Stichting voor Fundsmenteel Onderroek der Materie, Instituut voor Atoonv en' Mf)lecuulfysica, Amslerdam, Netherlands). {Symposium International sur les Jets Moleculaires de Haute et df'-! Moyenne Energie, 2nd, Cannes, France, July 1-4, 1969.)» EntropiB. Nov.-Dec. 1969, p refs. Iteseaich suppmied!>y the Nodeilandse OrganiScitie voor Zuiver- Th(; anrjular dislributinn and the energy distribution of ' ;nnn<ienei( eltc neulr.'il alkali beam, scatteind from and ioni/edbyan,' uiienled monociysliilline metal suiface, are measured as a function:'' of the energy of the beam particles, ranging (rom 1 to 50 ev and the ; anfjle ol incidence (tho. J inn.lo (wlween direction of motion and nniiniil at llie suiiacfi). Even at these relalively low enuiiiios llw observed phenomena can almost fully be accounted lor byi; two-pat tide infraction. (AuthoiJ*; A // / ATOM BEAM STUDIES OF HIGH TEMPERATURE ATOM B -' ACTION PROBABILITIES WITH SURFACES. -.<«R. J. Madix, G. Melin, and A. Susu (Stanford University, StanfortLj'.J Calif.). (SYMPOSIUM INTERNATIONAL SUR LES JETS MOLP, CULAIRES DE HAUTE ET DE MOYENNE ENERGIE, 2NB.U CANNES. FRANCE, JULY 1-4, PROCEEDINGS, p. 91-9JJJJ Entrapin. Nov. Dei:. 1969, p refs. _' (. (F ; or abstract sue issue 19, page 3377, Accession no. A ) s4$ A ,v APPLICATION OF AN IMPROVED MODEL OF THE BOUNDARY CONDITION TO MOLECULAR BEAM SCATTB^ ING FROM A SOLID SURFACE. Melvin Epstein (Aerospace Corp., Aerodynamics and Research Laboratory, El Seyundo, Calif.). (SYMPOSIUM INTERNATIONAL SUR LES JETS MOU$*J CULAIRES DE HAUTE ET DE MOYENNE ENERGIE, CANNES, FRANCE, JULY 1-4, 1969, PROCEEDINGS, p Entropie, Nov.-Dec. 1969, p refs. (For abstract see issue 19, page 3377, Accession no. A O A II THEORETICAL STUDY OF THE INTERACTION BETWEEN*! RAREFIED GAS AND THE SURFACE OF A SOLID BODY-«j TERPRETATION OF THE INTENSITY DISTRIBUTION Off MOLECULAR JETS.REFLECTED FROM AN ELEMENT^ CRYSTAL CELL (RECHERCHES THEORIQUES SUR AOI If IN lihni SOLIDE-INll *SES JF.IR M I INI A. NikuiadsH lonenlorschunn. ISyni/ins/iini /< ; Mnyonne /iw,-,v. fntropio, Nov. I Study /il ii. those of a M.:.I elementary cell i intensity distrii. ill (HI flit I It ll,m! "wnlaiy colls!. stnlisticnl CODM/I Bnltritimm «mi. I'UiVb lb dull,,.. distribution is i:. A , ELASTIC SCA I! A. Nikuradse,! lonenforschunji. f (Symposium lin, Moyenne Enenji,: Entropie, Nov.-Di The reflec!:. mechanically. A- single surface ait. the Dirac-wave-. intensities for &, scattering from. motion. Then «Battering froii! ; lattices of gold in n A STUDY OF THE i SURFACE ON (ETUDES SUR, FACE SOLID Sin. Peter Bark and / : -lonenforschun;) i (SYMPOSIUM', CULAIRES DE CANNES, FRANC (ntropie, Nov. -Dr.. (For abstract see : A / p- INTERPRETATID [^,'UOLECULAR 0! CESSES (SUR ; O'INTENSITE Dl?j. U.Graf, D. Jaeg' g% boenforschung, M "l Symposium In tin Hoyenne Energi,. ie, Nov.-Dw We show, hoiof therm;., boundary layer Lr ^"* lag betweei! ^.-...Jfeeration of den > ': ;«<thermal equiu,,.'.a // -»:i.'.'»fluence OF ' Vi'BOOY UPON THI pi>-.molecular BE D 1342 International Aerospace Abstracts

2 wellian distribution of velocities within the beam begins to decompose. This,is because the high-energy ions with Iherma) velocities>directed out of the beam are lost to the surrounding \acuum>even after the focusing process, in which the velocity vectors of mass motion are convergent, some molecules are\lost from the beam as a result of random motions.\thus a continual loss of thermally energetic ions'and molecules occurs throughout the entire travel of\the beam, resulting in a net cooling effect on the beanvas showi in figure 5. Another, and more important, consequencexof this "thermal expansion" of the beam is the develop, ment of a monodirectional behavior of the molecules within the final skimmed beam. As the temperature of the emerging ions increases, the divergence ofyfne beam will, of course, increase. Thus the outer portion of the beam, consisting of molecules with outwarddirected thermal velocities, is effectively removed from the final beam, providing a monodirectional test beam. Since the original distribution within/the ionization chamber is Maxwellian, what essentially happens is the removal of a central core along the beam axis. The original distribution of velocities along the beam axis remains intact as a resulyof the relatively long free path length within the beam itself. This implies that the momentum and energy within the beam may be calculated based on ^a one-dimensional treatment, simplifying the analysis considerably. REFERENCES (J l] STERN. O.. Untersuchen zur Molekular Sirahlenmethode, Zeitschrifi fur Physik. Vol ( ). [2] BICKER, E.W., and HtNKtsfW., Geschwindigkeitsanalyse von Laval-Strahlen, Zriist'hrift fur Phvsik, Vol. 146 (1956) / [3] CANN. G. L., TEEM/). M., BDHLER, R. 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Dissertation, Unive'rsnVof Alabama, [II] SCHAETZLE\ W.J., An Experimental Study of Molecular Surface Interactions -at Velocities up to and Exceeding Space Probe Escape\Vflocities, Final Report, Contract NAS8-5326, Bureau of Engineering Research, University of Alabama, 15 June "\ [12] Morr, N.F., and MASSEY, H.S.W., The Theory of Atomic Collisions, (Oxford University Press, London, 1965), 504. [13] VON ENGEL, A., Ionized Cases (Oxford University Press, London, 1955). \ [14] CRAVATH, A. M., The Rate at which Ions Lose Energy in Elastic Collisions, Physical Retieic, vol. 36 (July 1930) 248. [15) UTTERBACK, N.G., and MILLER, G.H., Rev. Sci. Intr., Vol. 32(1961), Realisation d'un appareil permettant d'obtenir des jets moleculaires d'energie comprise entre 2 e et 200 ev P.M. DEVIENNE, J.C. ROUSTAN, A. ROUSTAN et R. CLAPIER Laboratoire de Physique Mol6culaire des Hautes Energies, Peymeinade. 06, France MAR 4 '(S8b Le present exposed traite de la formation et de la detection des jets moleculaires oblenus par ^change de charge a partir d'une source d'ions de basse energie. Apres avoir mesure la dispersion en energie de la source, en particulier par une melhode de polentiel retardateur, jusqu'a 1 ev, ont tit ttudie les problemes poses par la detection des faisceaux de neutres. Plusieurs mtthodes ont tie utilisees, en particulier, remission tlectronique secondaire d'une surface mttallique, 1'ionisation d'une cible gazeuse ayant tin faible potentiel d'ionisaiion. L'utilisation d'un multiplicateur lubulaire et d un dispositif d'amplification synchrone a permis de mesurer les intensites de jets de neutres jusqu'a 10 ev. In this paper, we discuss about the formation and detection of molecular beams, obtained by charge exchange from an ion-source of lou' energy. After the measurement of the dispersion in energy of the ion-source, ve have study the problems concerning the detection of neutral beams. Different methods have been used, and, specially, the secundary electronic emissicity of a metallic surface; the ionization of a gas target having a loir ionisation collage. By the use of a tubular electron multiplier and a lock in amplifier, tee have measure the intensities of neutral beams, as lou as 10 ev Les sources d'ions du type Haute Frequence ne peuvent produire des faisceaux d'ions d'energie inferieure a 40 ev, car au niveau de 1'electrode d'extraction, le plasma form par le champ Haute Frequence se maintient a un potentiel de 1'ordre de quelques dizaines de volts. Ce potentiel est variable en fonction de la puissance HF necessaire au fonctionnement de la source; si la puissance augmente, le potentiel du plasma par rapport a celui de 1'electrode d'extraction croit et peut atteindre une centaine de volts. La source utilisee (fig. 1) pour operer a moyenne N T K 0 P I N 30 3f. Novembre-Dicembre

3 e'nergie est de"riv6e de celle utilised par Unerback, Miller [I] et Prince [2]. L'ionisation du plasma est produite par I'impact d'un faisceau d'electrons e"mis par un filament de tungstene chauffe' (diametre du filament $ = 0,6 mm). A la sortie de la source, les ions sont localises par une lentille /., portee a un potentiel n^gatif variable en fonction de la tension d'acceleration des ions;^.!le est r gl e de facon & obtenir le maximum de couravit ionique. Fig. I Source d'ions basse energie 1 Support isolant 2 Filament 3 Extraction 4 Corps de la source (acier inoxydable) 5 Arrivee de gaz 6 Lentille de focalisation Fig. 2 Dispositif experimental 1 Chambre d'essais auxiliaire 2 Cible 3 D tecteur 4 Multiplicateur a dynodes 5 Plaques de deflection des ions 6 Boite d'echange de charges 7 Diaphragme 8 Diaphragme 9 Diaphragme 10 lectro-aimant 11 Lentille de focalisation 12 Arrive'e de gaz 13 Extraction 14 Filament 15 Source d'ions (acier inoxydable) La figure 2 repre'sente le schema du dispositif experimental. Apres avoir e"te" focalise"s, les ions sont analyse* par un electro-aimant; cette analyse magnetique permet en particulier, de pouvoir travailler sur un type d'ions bien determine, tels que les ions d'hydrogene triatomique HS. Une partie des ions sortant de I Mlectro-aimant est neutralisee en molecules neutres par echange de charges; les ions non neutralises sent deflectes electrostatiquement. 54 f N T ft 0 P I 3O Movtmbrt-Dicimbrt 1369

4 1- Mesure de la dispersion en energie des faisceaux.d'ions sortant de la source. Deux methodes ont die" utilisees pour mesurer la dispersion en dnergie des faisceaux d'ions. 1.1 Methode du potentiel relardateur. Le faisceau d'ions est envoyd dans un ddtecteur constitud par une cible mdtallique associde a un mul'iplicateur d'electrons, (ce ddtecteur sera ddcrit plus en detail dans 1'dtude de la detection des neutres). Devant le detecteur, nous avons placd une grille dont le potentiel variable par rapport a la masse, permet de bloquer le faisceau d'ions. Par cette mdthode, 1'dtude de la variation du courant ionique, en fonction du potentiel retardateur appliqud a la grille a pu etre appliqude a des faisceaux d'ions jusqu'a 1 ev. Avec des jets d'dnergie dgale ou supdrieure a 2 ev, la dispersion en Energie est faible, mais elle augmente en-dessous de cette dnergie. de 3,5 Volts. A partir de la courbe prdcddente, nous avons, sur la figure 4, trad la courbe reprdsentant la dispersion en dnergie du faisceau; son dnergie moyenne esl de 3,6 ev, avec une dispersion a mi-hauteur de±0,lev. 1.2 Methode par analyse magnetique. Cette met hode ne permet pas de connaitre 1'dnergie exacte du faisceau, car 1'etalonnage du champ magnetique est tres delicat, mais elle permet de verifier que la dispersion en dnergie du faisceau est faible; en effet, comme le montre la figure 5, la separation obtenue a 3,5 ev, entre les faisceaux H{, Hj et Hj est totale. 07* * Fig. 3 Variation de I en fonction du potentiel retardateur, servant a mesurer I'inergie des ions ions ARGON f'.cc = 3,5 Volts La figure 3 represente la variation du courant ionique en fonction du potentiel retardateur; la tension d'acceleration appliqude a la source dtant voisine Fig. 5 Analyse par ilectroaimant, des ions hydrogene 4mis par la source d'ions Energie des ions : 3,5 ev 2 Detection des faisceaux de neutres. Le probleme de la detection des faisceaux de neutres a basse energie est tres delicat a rdsoudre. En utilisant diverses methodes, nous avons pu jusqu'a 8 ev, detecter des jets moleculaires et enregistrer en fonction du champ magndtique, les pics des jets moleculaires tels que H?, H, H formds a partir des faisceaux d'ions H, H^ et H^. Deux mdthodes principales ont dtd utilisdes : 2.1 Remission tlectronique secondaire etune surface meiallique. Lorsqu'une surface mdtallique est heunee par une molecule animee d'une vitesse elevee, elle dmet un certain nombre d'dlectrons secondaires; nous ddfinissons par y le nombre d'electrons dmis par moldcule arrivant : Fig. 4 Dispersion en fnergie du faisceau d'ions argon VKC = 3,5 VoltS Avec des jets de haute energie vers ev, le y est de 1'ordre de 1, mais au fur et a mesure que 1'dnergie diminue, le y decroit, pour devenir pratiquement nul avec des jets d'energie voisine de 15 ev. Nous avons mesure sur differents types de surface, les valeurs du y et essaye" en particulier, de voir sur des N T H 0 P I E N" 30 Novembie-Dtcembre

5 monocristaux si nous n'obtenions pas des valeurs superieures a celles obtenues sur le platine chaufte ou sur 1'aluminium. Les mono-cristaux utilises sont les suivants : Ga As 100 type P; Ge 111 type «; Si 110 type n; Si 111 type n. Les valeurs du y obtenues sur ces mono-cristaux sont tres proches, elles sont superieures, mais du meme ordre de grandeur que celles obtenues sur le platine chauffe'. En particulier, pour un jet d'helium a ev, Ton trouve : y (GaAs) 7 (Pt chaud) = 4 et pour 1'Argon, a la meme Energie : y(gaas) = 6^ y(pt chaud) Nous avons mesurs sur une surface de platine chaufte", bombardee par un jet d'argon, les valeurs du y, jusqu'a 100 ev. Nous avons trouve pour y, les valeurs suivantes: Energie 350 ev 250 ev 200 ev 100 ev y 0,035 0,022 0,014 0,008 En-dessous de looev, cette methode n'est plus appliquable, car le faisceau d'ions se defocalise au contact de la cible gazeuse contenue dans la boite d'echange de charges. Le nombre d'electrons emis par une surface metallique etant tres faible, pour augmenter la sensibiliti du de"tecteur, les electrons 6mis par la surface sont focalise's et envoyes soit sur la premiere dynode d'un multiplicateur a dynodes, soit sur l'entr e d'un muhiplicateur tubulaire. La sortie du multiplicateur est reliee a un picoamperemetre; avec ce dispositif, il a etc possible de d&ecter des faisceaux de neutres jusqu'a 15eV. 2.2 lonisation (Tune cible gazeuse. La methode consiste (fig. 6), a ioniser dans une boite de collisions, une cible gazeuse ayant un tres faible potentiel d'ionisation; nous avons utilise" plusieurs types de cible gazeuse, mais les meilleurs resultats ont et6 obtenus avec une cible de Toluene, (potentiel d'ionisation : 8,5 ev). Les ions toluene sont formes dans la boite de collisions polarised a Volts. Ces ions sont extraits, focalise's et envoyes dans le detecteur constitue par une cible metallique associee a un multiplicateur d'electrons. La cible a 1'interieur du detecteur etant a Volts, les ions toluene la heurtant, ont une energie proche de ev; le facteur y f est tres eleve par rapport au y des molecules que Ton doit detecter. Plusieurs problemes limitent cette methode : a) La pression dans la boite de collisions doit etre faible si Ton veut eviter que les molecules de toluene qui eftusent de la boite, n'absorbent pas le jet moleculaire; b) Le nombre d'ions toluene formes reste faible, car l'6nergie du faisceau de neutres est peu levee. ) II II JU. A si <N 1 -\ V H900V +1000V Oi v2/ -1970V i \ L-! v \' V -2500V _^ ^" t _... i -24OOV Fig. 6 Schema d'une bode de collision et systime de detection 0 D6tecteur i ruban de platine plus multiplicateur 0 6 mm pour tous les trous. (5) Diaphragme. Collecteur. Pico-amperemetre. Jauge Pirani. (?) Arrive* de gaz. ( ) Boite de collisions. (?) Electrodes de focalisation. Cette methode, d'une part, nous a per mis de gagner en sensibilite, par rapport a la me'thode precedente, par exemple, a 20 ev le gain est de 20, et d'autre part, nous avons pu ddtecter des faisceaux de neutres jusqu'a 10 ev. 3 Amelioration da systeme de detection. Cette amelioration peut etre appliquee soit a la methode utilisant remission electronique secondaire d'une surface, soit a la methode de 1'ionisation d'une cible gazeuse; la figure 7 represente le schema bloc du dispositif utilise. La m&hode consiste a faire fonctionner la source, non plus en regime continu, mais en regime pulse, et a faire une detection avec un amplificateur selectif a 1 KHz. Sur la source, nous envoyons des impulsions rectangulaires ayant une hauteur reglable entre 0 et 35 Volts. A la sortie du multiplicateur d'electrons, les 56 N T O P / f Hovtmbri Oicambre 1969

6 impulsions de courant sont amplifies par un amplificateur se"iectif place" sous vide pres du de"tecteur. Un diviseur de tension par 100 permel de diminuer le gain s : le courant d bite par le tubulaire devient trop important. A I'extirieur de 1'appareil, un amplificateur ope'rationnel de gain variable est suivi d'un redresseur et d'un inte*grateur de facon a de"livrer en sortie une tension pouvant varier entre 0 et 10 Volts. La constante de temps de rinte"grateur est variable entre 0,3 el 10 secondes, ce qui permet d'e'liminer les fluctuations ateatoires et brutales qui peuvent survenir durant les mesures. Fig. 7 Detection fun jet mouculaire d basse inergie Arriv^e de gaz. Chauffage i filament de 26 A. (D Amplificateur de puissance. Gdn^rateur d'impulsions. Tubulaire a extr6m'n6 fermec. Jet moleculaire vers la cible. (7) Amplificateur s^lectif. ( ) Amplificateur oplrationnel. RC de 0,3 a 10 Enregistreur XY Ceract^ristiques de la source d'ions pulses Panic exlerieufe II est a noter qu'une augmentation importante de la sensibilit6 du ddtecteur a 6te obtenue dans le cas de remission e"lectronique secondaire d'une surface, en envoyant directement le jet de neutres sur I'entr^e du detecteur tubulaire. Ce dispositif de d^tecteur est encore actuellement a 1'essai, mais il nous a deja permis de tracer comme nous le montre la figure 8, a une e"nergie de 35 ev, sur un enregistreur XY, en fonction du champ magne"tique, les pics H, H et H des jets moleculaires obtenus en neutralisant par exchange de charges, les pics H, H 2 et H 3. Avec ce dernier dispositif, nous avons enregistri ces picsjusqu'a 10eV, et des mises au point de nouvelles mdthodes actuellement en cours de de"ve1oppement, devraient dans un proche avenir, permettrede descendre a des Energies beaucoup plus faibles. REFERENCES Fig. 8 Analyse par ilectroaimant des moucules H?, HJ, H, formies d parlir des ions HJ, HJ, HJ nergie des molecules : 35 ev [1] Fast Molecular Nitrogen Beam, Rev. ofsci. Jnsi., vol. 32, 10, October [2] A Low Energy Nitrogen Ion Beam, Ulias Tech. Note, No. 80, May N T R 0 P I f N" 30 Jf. Novembre-Dtcembre

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