M1 - MP057. Microscopie Électronique en Transmission Diffraction Imagerie

Dimension: px
Commencer à balayer dès la page:

Download "M1 - MP057. Microscopie Électronique en Transmission Diffraction Imagerie"

Transcription

1 M1 - MP057 Microscopie Électronique en Transmission Diffraction Imagerie Nicolas Menguy Institut de Minéralogie et Physique des Milieux Condensés Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy

2 Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy Introduction comment voir la structure de la matière? Pour voir un objet de taille d il faut un rayonnement dont la longueur d onde associée! est telle que :! < d exemple : avec la lumière visible, la résolution limite est de l ordre de 0.5!m Pour observer la structure de la matière à l échelle atomique il faut donc un rayonnement tel que!! 0.1 nm " Rayonnement électromagnétique avec! " 0.1 nm : rayons X problème : on ne sait pas faire de microscope à rayons X # diffraction des rayons X

3 Introduction comment voir la structure de la matière? " Rayonnement électronique dualité onde - corpuscule / relation de De Broglie (1924) : = h p = h mv 1 v2 c 2! = 2.51 pm pour E = 200 kv possibilité de focaliser les faisceaux électroniques # lentilles électrostatiques # lentilles magnétiques # conception du premier microscope électronique en transmission (1931) Ernst Ruska (Prix Nobel 1986) E. Ruska et M. Knoll 1931 Introduction Principe général de l analyse des matériaux Rayonnement incident (sonde) Rayonnements réémis Rayonnements diffusés, transmis caractéristiques du rayonnement incident (nature, flux) connaissance du phénomène physique analyse des rayonnement réémis/diffusés (nature, flux)

4 Partie 1 Introduction Le microscope électronique en transmission : - canon, colonne L'échantillon de MET - particularités - préparation, - Focused Ion Beam (FIB) La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique - applications Description du Microscope Électronique en Transmission canon détecteur RX colonne porte-objet caméra CCD / spectromètre EELS

5 Description du Microscope Électronique en Transmission Description du Microscope Électronique en Transmission canon 200 kv porte-échantillon système projecteur système condenseur lentille objectif chambre d observation chambre à négatifs + les différents détecteurs : - caméras CCD - détecteur de rayons X - spectromètre EELS - détecteur HAADF -

6 Canon électronique Émission thermo-ionique Filament W Pointe LaB 6 La densité de courant à la sortie du filament est donnée par la relation de Richardson Dushman :! J 0 = A T 2 exp! "# -! ' W k $ %& B T! A : C te qui dépend du matériau $ W : énergie d extraction kb : C te de Boltzmann Canon électronique Émission de champ La pointe est constituée d un monocristal de W (310) La forme de la pointe est telle (r " 0.1µm) qu un champ important existe au niveau de la pointe (10 7 V cm -1 ). Les e sont extraits par effet tunnel La densité de courant est donnée par la relation de Fowler Nordheim!: J = k 1! E 2!! W! exp # #$ k - 2!! 3/2 "!!W!! E % &&' k 1 et k 2!: constantes La production d électrons se fait en deux temps!: extraction # à tension fixe accélération # à tension variable

7 Canon électronique Émission thermo-ionique assistée : effet Schottky La pointe est constituée d un monocristal de W recouvert de ZrO. L énergie d extraction est abaissée à 2.7 ev. La forme de la pointe est telle (r " 1µm) qu un champ important existe au niveau de la pointe (10 6 V cm -1 ). J = A T 2 exp " "#! -! ' W!-!"' W k $ %%& B T! avec "' W = e! e! E 4!#!(! 0 À partir d une valeur critique du champ E, l émission est similaire à celle d un canon à émission de champ. La production d électrons se fait également en deux temps!: extraction # à tension fixe accélération # à tension variable Canon électronique Comparaison des différents types de canon W LaB 6 W (FE) W-ZrO (SE) Énergie d extraction (ev)! Densité de courant [A cm -2 ] 1.3! Température de fonct nt [K] Brillance [A cm -2 sr -1 ] Diamètre du cross-over [µm] " Dispersion en énergie [ev] Durée de vie [h] > 1000 > 5000 Pression de fonct nt [Pa] < 10-6

8 Principe des lentilles électromagnétiques Les lentilles sont constituées d un bobinage entouré d un blindage de forme particulière assurant la forme voulue des lignes de champ magnétique. F! = q v! " B! On observe un effet de convergence associé à un effet de rotation des e. F! B r v! F r v z z B z z Défauts des lentilles électromagnétiques Aberration de chromaticité ABERRATION CHROMATIQUE E E-!E ds! d s = c c!e E!

9 Défauts des lentilles électromagnétiques Aberration de diffraction ABERRATION DE DIFFRACTION due au diaphragme de sortie de la lentille objectif! d d = 1.22 "! Défauts des lentilles électromagnétiques Aberration de sphéricité ABERRATION SPHERIQUE ds plan de l image gaussienne! plan de moindre confusion d s = 1 2 c s! 3

10 Microscopie Électronique à Haute Résolution Aberration de Sphéricité ds plan de l image gaussienne! plan de moindre confusion d s = 1 2 c s! 3 L'image d'un point n'est plus un point! Lentille parfaite Lentille réelle En outre, à cause de l'aberration de sphéricité, la lentille objectif introduit un déphasage entre les faisceaux diffractés. " difficulté à interpréter les images Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy

11 Échantillon de MET transparent aux électrons de 200 kev épaisseur < 100 nm impératif!!! 20 nm : idéal Amincissement ionique Ar+ + ethanol Préparation des échantillons par FIB Focused Ion Beam Problème posé : Défaillance d un circuit imprimé. Hypothèses ; il s agit d un défaut apparu lors de l élaboration du composant " il faudrait pouvoir analyser en profondeur tout en gardant une bonne résolution spatiale Faisceau d ions Ga+

12 Préparation des échantillons par FIB Focused Ion Beam Dépôt d une couche protectrice de platine Affinement de la lame # 50 nm Excavation de part et d autre de la lame Lame mince : 15 µm x 5 µm x 50 nm Découpage de la lame Prélèvement de la lame (micromanipulateur) Dépôt de la lame sur grille M.E.T. Porte - Échantillon de MET Simple tilt double tilt Refroidi # N2 liquide # He liquide

13 Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy Interactions Électrons - Matière Échantillon mince faisceau incident lumière rayons X e Auger e primaires rétrodiffusés e secondaires e absorbés e diffusés inélastiquement e diffusés élastiquement e transmis

14 Interactions Électrons - Matière Diffusion élastique - Diffusion inélastique faisceau incident Si l échantillon est suffisamment mince (< 100 nm), des e peuvent le traverser : sans être déviés, sans perdre d énergie : e transmis e diffusés inélastiquement e diffusés élastiquement en étant déviés, sans perdre d énergie ; e diffractés " diffusion élastique # diffraction e transmis en étant déviés et en perdant de l énergie : " diffusion inélastique # spectroscopie de perte d énergie (EELS) Mode IMAGE et mode DIFFRACTION Comme les lentilles sont électromagnétiques, il est possible de faire varier continûment leur distance focale : - condenseur : focaliser le faisceau - lentille objectif : faire varier la mise au point - système projecteur : agrandir le plan image de la lentille objectif agrandir le plan focal de la lentille objectif 10 nm Magnétite Fe 3 O 4 Diffraction selon un axe de zone <110>

15 Mode IMAGE et mode DIFFRACTION A B PO OBJ PO OBJ lentille objectif PF OBJ PO PROJ PF OBJ B A PO PROJ PI OBJ POPROJ PI OBJ lentille projecteur PF PROJ A B PI PROJ PI PROJ Diffraction des électrons Les e voient le potentiel cristallin V atomique # V Le cristal se comporte comme un réseau V moyen # V " possibilité d observer une diffraction du faisceau électronique par le réseau

16 Diffraction des électrons Rappel : description d Ewald dans le cas des rayons X La condition de diffraction par des plans de la famille de plans (hkl) peut être décrite : dans l espace direct : dans l espace réciproque :! # k hkl % d hkl # k 0 2% # Q 000 Interférences constructives si la différence de chemin optique = n! 2 d hkl sin% = n! Interférences constructives si!le vecteur de diffusion est égal à un vecteur du réseau réciproque Q! = k! k! 0 = G! *!! hkl!! G " *!!! hkl! =!!!!!!! k "!!k " 0 = 2 sin# $!!!!!! 1 d hkl = 2 sin" # 1 $ k " 0 Diffraction des électrons description d Ewald dans le cas des électrons avec E " 200 kev Pour E = 200 kev, la longueur d onde associée est :! = Å = 2.51 pm "! << d hkl " k 0 >> G hkl Plusieurs nœuds peuvent intercepter simultanément la sphère d Ewald # k # k 0

17 Diffraction électronique dans le MET caractéristiques générales : conséquences de la morphologie de l échantillon de MET (1) Cas de la diffraction par un réseau N fentes d!/d 10 fentes 100 fentes Cas d une lame mince de MET a La largeur du pic de diffraction dépend du nombre de fentes # c* x " 1 #m y " 1 #m # a* # b* x " nm Le nœuds du réseau réciproque sont allongés dans la direction où le cristal est mince Diffraction électronique dans le MET caractéristiques générales : conséquences de la morphologie de l échantillon de MET (2) 1/! S.E. R.R. Selected Area Electron Diffraction (SAED)

18 Diffraction électronique dans le MET détermination des distances interéticulaires lentille objectif PO OBJ # k 0 # k Lentille PO PROJ PF OBJ! projecteur k 0 L = G! hkl L : longueur de caméra # G hkl r hkl PI PROJ 000 r hkl d hkl =! L r hkl La méthode est peu précise : +/ Å Diffraction électronique dans le MET Intérêt et Mise en œuvre Intérêt Étude cristallographique de nano-particules Étude cristallographique de composés multiphasés Étude des interfaces et multicouches Nature amorphe / cristalline d'un matériau Mise en œuvre Détermination de l'orientation cristallographique Indexation des pics Mesure des distances interéticulaires

19 Étude cristallographique de nano-particules Diffraction électronique d une assemblée de cristaux e 2% 1 2% 2 Analogue à la méthode de Debye et Scherrer d hkl (nm) Application Découverte de nouvelles phases En 1984, une phase ordonnée mais non périodique a été mise en évidence. Alliage Al 86 Mn 14 symétrie icosaédrique (m35) C C B A " QUASI-CRISTAUX B F E D F E D A Phase constituée de micro-cristaux " SAED indispensable!!!

20 Application identification de composés XEDS : C - Ca - O majoritaires Intensity (a.u) C K! O K! Mg Na K! K! Si K! P K! S K! Cl K! K K! Ca K! Ca K" XEDS Cu K! Cu K" kev Diffraction : compatible avec CaO Nécessité de connaître la composition! La précision de la diffraction électronique n est pas suffisante pour déterminer sans ambiguité la nature d une phase ($ diffraction des rayons X) Diffraction électronique et Transformée de Fourier Analyse locale à partir d'images haute résolution Å 1 d 111 = 4.85 Å f (Å 1 ) Å 1 d 200 = 4.20 Å f (Å 1 ) Å 1 d 220 = 2.95 Å f (Å 1 ) Analyse des fréquences spatiales de l image

21 Diffraction électronique et Transformée de Fourier Analyse locale à partir d'images haute résolution (HREM) F.F.T. SAED " (220) (111) (200) La diffraction numérique peut représenter une alternative à la diffraction électronique conventionnelle Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy

22 Mode IMAGE et mode DIFFRACTION Principe : & 0 PO OBJ & i PF OBJ plan focal T.F.(& i ) PI OBJ T.F.(T.F.(& i )) Microscopie Conventionnelle : Contraste en mode image Contraste d absorption - Contraste de diffraction Plus le matériau a Z élevé, - plus il absorbe les e - plus il diffuse les e à grand angle Un matériau cristallin diffracte les e à grand angle. e Par construction, les e diffusés à grand angle sont arrêtés par des diaphragmes. " les matériaux à Z élevé apparaissent sombres " les matériaux cristallisés apparaissent plus sombres que les matériaux amorphes nano-tubes de SiO 2 amorphe contenant des particules de Pt

23 Microscopie Conventionnelle : Contraste en mode image Utilisation du diaphragme de contraste - Image CHAMP CLAIR (BRIGHT FIELD) PO OBJ Z Z PF OBJ PO PROJ L insertion d un diaphragme dans le plan focal de la lentille objectif occulte les faisceaux diffractés à grand angle " renforce le contraste Microscopie Conventionnelle : Contraste en mode image Utilisation du diaphragme de contraste - Image CHAMP NOIR (DARK FIELD) PO OBJ Z Z Il est possible de positionner le diaphragme dans le plan focal de la lentille objectif de tel sorte qu il occulte les faisceaux transmis et peu déviés et qu il laisse passer les faisceaux diffractés à grand angle " mise en évidence des particules diffusant à grand angle PF OBJ " mise en évidence des particules cristallisées PO PROJ 0.2 µm

24 Microscopie Électronique à Haute Résolution High Résolution Electron Microscopy HREM " Possibilité de "voir" le réseau cristallin Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy

25 Diffraction électronique dans le MET Étude d'une interface Étude de l'interface Silicium - Pyrex Quel est le plan d'interface entre le silicium et le pyrex? Diffraction électronique dans le MET Intérêt et Mise en œuvre : exemple Étude de l'interface Silicium - Pyrex Nature cristalline de l'échantillon Nature amorphe du pyrex " pas de cristallisation Comment exploiter le diagramme de diffraction de manière qualitative? " 1. Identification de l'axe de zone 2. Vérification de l'indexation 3. Lien avec l'image

26 Diffraction électronique dans le MET réseau réciproque d'une structure c.f.c. et diagrammes de diffraction Le réseau réciproque d'une structure c.f.c (cf) est un réseau cubique centré e // [001] e // [101] e // [111] Coupes correspondantes du réseau réciproque Diffraction électronique dans le MET symétries des réseaux directs et réciproques : cas d'une structure c.f.c. 4mm mm2 3m Réseau réciproque Réseau direct 4mm mm2 6mm Les diagrammes de diffraction reflètent la symétrie du cristal Le réseau réciproque est centrosymétrique (Loi de Friedel)

27 Diffraction électronique dans le MET Identification des diagrammes de diffraction Chaque diagramme a des caractéristiques géométriques propres <001> <011> A B C A 111 B C Symétrie 4mm B C = 8 4 = 2! A C = 4 4 = 1 Symétrie mm2 A C = 8 4! A B = 8 3! C B = 4 3! Diffraction électronique dans le MET Identification des diagrammes de diffraction Chaque diagramme a des caractéristiques géométriques propres <111> 022 A B C <112> 220 A B C <123> A B C Symétrie 6mm Symétrie mm2 Symétrie 2 A C = B C = 4 4 = 1 A C = 8 3! B A = 11 8! A C = 27 3 = 3 B C = 19 3! B C = 11 3! 1.915

28 Diffraction électronique dans le MET Identification des diagrammes de diffraction Les diagrammes de diffraction des systèmes cubique F (f.c.c.), Al, Cu, Ni, Sr, Rh, Pd, Ag, Ce, Tb, Ir, Pt, Au, Pb, Th, cubique I (b.c.c.), Na, K, V, Cr, Fe, Rb, Nb, Mo, Cs, Ba, Eu, Ta, cubique diamant, Si, Ge, Sn, C (diamant), hexagonal compact (h.c.p.), Be, Sc, Te, Co, Zn, Y, Zr, Tc, Ru, Gd, Tb, Py, Ho, Er, Tm, Lu, Hf, Re, Os, Tl, sont reportés dans des tables. Pour les autres structures, des logiciels permettent d identifier les axes de zones des structures connues. Il suffit d indiquer les caractéristiques géométriques du diagramme de diffraction étudié. Diffraction électronique dans le MET Identification dans le cas de l'interface Si / Pyrex Symétrie : mm2 C A B A C! 1.44 A B! 1.65 C B! 1.15 Angle entre B et C " 55 " Il s'agit d'un axe de zone <110> " Indexation des réflexions d 111 " nm 200 en accord avec le paramètre de maille du silicium ( nm)

29 Diffraction électronique dans le MET Détermination des directions cristallographiques (111) (220) (111) 200 (100) [110] [111] -[111] [100] le plan d'interface entre le silicium et le pyrex est donc un plan {100} Diffraction électronique et Transformée de Fourier Analyse locale à partir d'images haute résolution F.F.T. &0 POOBJ &i 10 nm " plan focal PFOBJ T.F.(&i) PIOBJ T.F.(T.F.(&i)) La diffraction électronique conventionnelle a une résolution spatiale " 100 nm SAED

30 Analyse morphologique Analyse cristallographique par Transformée de Fourier [1 11] [022] [111] [200] Application de la diffraction Étude de défauts Défauts dans des nano-particules de magnétites Fe 3 O 4 Diffraction inhabituelle!!!

31 Application de la diffraction Étude de défauts Axe de zone [110] Axe de zone [110] Deux cristaux avec une orientation cristallographique commune # maclage Application de la diffraction Étude de défauts A A B B Plan de macle (111) Deux cristaux avec une orientation cristallographique commune

32 Plan Le microscope électronique en transmission : - colonne, canon, lentilles L'échantillon de MET - préparation, Focused Ion Beam La diffraction électronique - principe de formation de l'image, de la diffraction - particularités de la diffraction électronique Imagerie MET conventionnelle : champ clair, champ noir!exemples d'application - identification d'axes de zone de structures cubiques simples!analyse chimique : X-ray Energy Dispersive Spectroscopy Émission de rayons X Caractéristiques du rayonnement X E (ev) = /! (Å) 10-9 m m

33 Émission de rayons X Origine du rayonnement X e rayons X Spectre de rayons X : - fond continu (Brehmsstrahlung) - raies caractéristiques Phénomènes en deux étapes : Émission de rayons X Origine des raies caractéristiques 1. Ionisation 2. Désexcitation radiative e (E 0 > W K ) MV MIV MIII M M II I LIII LII LI photon X K FLUORESCENCE Les énergies des photons émis sont caractéristiques des éléments étudiés raie K' 1 : h( = W K - W L3 raie K' 2 : h( = W K - W L2

34 Émission de rayons X Spectre de fluorescence Si K! O K! Ga K" Ga K! Cu K" Cu K! Fe K! Ca K" K K! Cl K! Ga L! Al K! F K! Intensité (a.u.) Echantillon Ca K! e 10 Energie (kev) Acquisition d undes spectre : intensité detectée en fonction de l énergie L identification pics permet l identification des éléments contenus dans l échantillon " Possibilité de quantifier! (! at%) Analyse chimique Cartographie XEDS Os map Ce map 12

35 Bibliographie David B.Williams and C. Barry Carter "Transmission Electron Microscopy : A text books for materails science" Plenum Press.New yyork and London 1996 Eberhardt J.P. "Analyse structurale et chimique des matériaux. Diffraction des rayons X, électrons et neutrons. Spectrométrie des rayons X, électrons et ions. Microscopie Electronique." Science Sup. 1989: DUNOD Site de Florent Houdelier : (MET) (MET) (MET) (MET) (MEB) (MEB - Microsonde) (Analyse X / EDS WDS)

Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques

Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques GDR Verres GDR 3338 Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques Nicolas Menguy Institut de Minéralogie et Physique des Milieux Condensés Plan Partie 1 - Le microscope électronique

Plus en détail

Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques

Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques Caractérisations des nanomatériaux par microscopies électroniques Nicolas Menguy Institut de Minéralogie et Physique des Milieux Condensés Plan Partie 1 - Le microscope électronique en transmission (M.E.T.)

Plus en détail

Microscopies Électroniques

Microscopies Électroniques Microscopies Électroniques M2 Microscopie Électronique en Transmission Diffraction Nicolas Menguy Institut de Minéralogie et Physique des Milieux Condensés Plan Le microscope électronique en transmission

Plus en détail

4. Microscopie électronique à balayage

4. Microscopie électronique à balayage 4. Microscopie électronique à balayage 4.1. Principe de formation des images en MEB 4.2. Mise en œuvre 4.3. Les différents modes d imagerie 4.4. Les différents types de contraste 4.5. Performances 4.5.1.

Plus en détail

Dates partiel MASC : Mardi 29/04, 8h-9h30 Documents autorisés : 3 feuilles A4 recto-verso Programme limité au premier fascicule

Dates partiel MASC : Mardi 29/04, 8h-9h30 Documents autorisés : 3 feuilles A4 recto-verso Programme limité au premier fascicule Dates partiel MASC : Mardi 29/04, 8h-9h30 Documents autorisés : 3 feuilles A4 recto-verso Programme limité au premier fascicule Déplacement d un TD : ven 18/04, 14h-15h30 (groupe II) Créneau de remplacement

Plus en détail

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM)

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM) MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (TEM) La microscopie électronique en transmission est proche dans son principe de la microscopie optique. Cependant la longueur

Plus en détail

4- Méthodes physiques d analyse en métallurgie

4- Méthodes physiques d analyse en métallurgie 4- Méthodes physiques d analyse en métallurgie a) Classifications b) Microscope métallographique c) Microscope électronique à balayage d) Microscope électronique en transmission e) Diffraction des rayons

Plus en détail

Consignes pour les TP MASC et le projet MASC

Consignes pour les TP MASC et le projet MASC Consignes pour les TP MASC et le projet MASC Notation : note globale = 50%TP + 50 % Projet MASC Projet MASC Durée estimée : 12h de travail/groupe (binôme ou trinôme) Objectif : présenter un exemple d'analyse

Plus en détail

en première approximation: lentille mince optique géométrique (plus précisément lentille épaisse: plans principaux, distances focales asymétriques )

en première approximation: lentille mince optique géométrique (plus précisément lentille épaisse: plans principaux, distances focales asymétriques ) Lentilles (I) en première approximation: lentille mince optique géométrique (plus précisément lentille épaisse: plans principaux, distances focales asymétriques ) En particulier une image de la source

Plus en détail

SPECTROSCOPIE RAMAN I APPLICATIONS

SPECTROSCOPIE RAMAN I APPLICATIONS SPECTROSCOPIE RAMAN La spectroscopie Raman est une technique d analyse non destructive, basée sur la détection des photons diffusés inélastiquement suite à l interaction de l échantillon avec un faisceau

Plus en détail

Microscopie électronique en

Microscopie électronique en Microscopie électronique en transmission I. Instrument Nadi Braidy Professeur adjoint Génie chimique et Génie biotechnologique Université de Sherbrooke Nadi.Braidy@USherbrooke.ca 8 mars 2011 Plan I. Instrument

Plus en détail

La classification périodique

La classification périodique Chapitre 3 : UE1 : Chimie Chimie physique La classification périodique Pierre-Alexis GAUCHARD Agrégé de chimie, Docteur ès sciences Année universitaire 2010/2011 Université Joseph Fourier de Grenoble -

Plus en détail

Prévisions des eaux de drainage & programme d essai de lixiviation des métaux: pratiques actuelles

Prévisions des eaux de drainage & programme d essai de lixiviation des métaux: pratiques actuelles Février 2012 Prévisions des eaux de drainage & programme d essai de lixiviation des métaux: pratiques actuelles CONFIDENTIEL Sommaire Mise en contexte sur DMA / LM Objectifs du programme de DMA / LM Composantes

Plus en détail

Expression de la Concession et de l Opposition in. La photographie scientifique Par Gérard BETTON (PUF, 1975) 04/06/2015

Expression de la Concession et de l Opposition in. La photographie scientifique Par Gérard BETTON (PUF, 1975) 04/06/2015 1 Expression de la Concession et de l Opposition in La photographie scientifique Par Gérard BETTON (PUF, 1975) 2 Concession /Opposition Compléter avec un des mots ou expressions suivantes : au lieu de

Plus en détail

PHYSICO-CHIMIE (4 points)

PHYSICO-CHIMIE (4 points) La calculatrice est autorisée. Un document-réponse est à rendre avec la copie. Deux feuilles de papier millimétré sont nécessaires PHYSICO-CHIMIE (4 points) 1 ) Comment définit-on l'énergie de première

Plus en détail

Scanner X. Intervenant : E. Baudrier baudrier@unistra.fr

Scanner X. Intervenant : E. Baudrier baudrier@unistra.fr Scanner X Intervenant : E. Baudrier baudrier@unistra.fr Les rayons X Production des rayons X Interaction avec la matière Détection des rayons X Les scanners X Reconstruction de l image L image Ondes électromagnétiques

Plus en détail

Méthodes expérimentales de la physique

Méthodes expérimentales de la physique Méthodes expérimentales de la physique Physique des surfaces 1. Généralités Jean-Marc Bonard Année académique 07-08 Physique des surfaces! Endroit le plus accessible d un matériau solide! Beaucoup de phénomènes

Plus en détail

Microscopie Electronique en Transmission

Microscopie Electronique en Transmission Microscopie Electronique en Transmission Le principe de la microscopie électronique en transmission (MET) utilise le caractère ondulatoire des électrons en mouvement : un faisceau électronique est une

Plus en détail

PLATE-FORME DE MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION

PLATE-FORME DE MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION PLATE-FORME DE MICROSCOPIE ÉLECTRONIQUE À TRANSMISSION Dr. Mohamed SENNOUR Responsable de la plate-forme JOURNÉE PLATES-FORMES EVRY, GÉNOCENTRE 25 juin 2013 Contexte et historique 2000 : constitution du

Plus en détail

Voir dans le nanomonde

Voir dans le nanomonde Voir dans le nanomonde Spectroscopie La lumière visible permettra-t-elle de «voir» les atomes? Fréquence micro onde Infrarouge Visible et UV Rayon X réaction des molécules rotation vibration des liaisons

Plus en détail

Application à l astrophysique ACTIVITE

Application à l astrophysique ACTIVITE Application à l astrophysique Seconde ACTIVITE I ) But : Le but de l activité est de donner quelques exemples d'utilisations pratiques de l analyse spectrale permettant de connaître un peu mieux les étoiles.

Plus en détail

Apport de l'analyse multiélémentaire associée à une démarche de qualité pour la résolution de problèmes environnementaux

Apport de l'analyse multiélémentaire associée à une démarche de qualité pour la résolution de problèmes environnementaux Apport de l'analyse multiélémentaire associée à une démarche de qualité pour la résolution de problèmes environnementaux R. Losno, Professeur, Université Paris 7 Denis-Diderot, LISA EECA - EUROFINS Alan

Plus en détail

Recuit sous hydrogène des couches du silicium poreux

Recuit sous hydrogène des couches du silicium poreux Revue des Energies Renouvelables ICRESD-07 Tlemcen (2007) 47 52 Recuit sous hydrogène des couches du silicium poreux F. Otmani *, Z. Fekih, N. Ghellai, K. Rahmoun et N.E. Chabane-Sari Unité de Recherche

Plus en détail

Microscopie Electronique en Transmission : TEM : Applications aux Nanostructures

Microscopie Electronique en Transmission : TEM : Applications aux Nanostructures Microscopie Electronique en Transmission : Applications aux nanostructures Christian Ricolleau Université Paris 7 / CNRS Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques Equipe Matériaux Nanostructurés :

Plus en détail

Spectrophotomètre UV Visible (200 nm 800 nm)

Spectrophotomètre UV Visible (200 nm 800 nm) Spectrophotomètre UV Visible (200 nm 800 nm) Cet appareil est constitué d une fibre optique, d un réseau de diffraction, et d une caméra linéaire (capteur CCD de 2048 pixels de 14 µm x 200 µm). On obtient

Plus en détail

OPTIQUE GEOMETRIQUE II.- THEORIE. Définition : L indice de réfraction n caractérise le milieu dans lequel se propage la lumière.

OPTIQUE GEOMETRIQUE II.- THEORIE. Définition : L indice de réfraction n caractérise le milieu dans lequel se propage la lumière. 31 O1 OPTIQUE GEOMETRIQUE I.- INTRODUCTION L optique est une partie de la physique qui étudie la propagation de la lumière. La lumière visible est une onde électromagnétique (EM) dans le domaine de longueur

Plus en détail

Microbiologie BIOL 3253. Étude de la structure microbienne: microscopie et préparation des échantillons

Microbiologie BIOL 3253. Étude de la structure microbienne: microscopie et préparation des échantillons Microbiologie BIOL 3253 Étude de la structure microbienne: microscopie et préparation des échantillons Les lentilles et la déviation de la lumière Quand un rayon lumineux passe d un milieu à un autre,

Plus en détail

A - Méthode Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) τ = 230 ms. Transition laser : λ = 1064 nm

A - Méthode Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS) τ = 230 ms. Transition laser : λ = 1064 nm Etude d une peinture flamande de Jan Van Eyck : XV e siècle Les époux Arnolfini 1 434 «Fake or not fake»? Données numériques h = 6,62 10-34 J.s c = 3 10 8 m.s -1 e = 1,60 10-19 C 1 ev= 1,60 10-19 J A -

Plus en détail

Nous nous intéresserons ici à une version simplifiée du modèle corpusculaire pour décrire l optique géométrique.

Nous nous intéresserons ici à une version simplifiée du modèle corpusculaire pour décrire l optique géométrique. OPTIQUE GEOMETRIQUE Définitions : L optique est la science qui décrit les propriétés de la propagation de la lumière. La lumière est un concept extrêmement compliqué et dont la réalité physique n est pas

Plus en détail

Corrigés de la séance 13 Chap 25-26: La lumière, l optique géométrique

Corrigés de la séance 13 Chap 25-26: La lumière, l optique géométrique Corrigés de la séance 13 Chap 25-26: La lumière, l optique géométrique Questions pour réfléchir chap. 26 Q3. Expliquez pourquoi la distance focale d une lentille dépend en réalité de la couleur de la lumière

Plus en détail

Instrumentation scientifique

Instrumentation scientifique Liste Guide > Juin 2013 Instrumentation scientifique Microscopie électronique et Instrumentation associée Microscopie en champ proche et Profilométrie Analyse élémentaire Analyse structurale www.elexience.fr

Plus en détail

L PRESENTATION GENERALE SCPIO

L PRESENTATION GENERALE SCPIO L PRESENTATION GENERALE SCPIO Nom : DEPARTEMENT PLATEFORME TECHNOLOGIQUE Sigle: CEA / DRT / LETI / DPTS SILICUIM Etablissement : CEA Grenoble Adresse : 7 rue des Martyrs Site Web : 804 GRENOBLE Cedex 9

Plus en détail

Microscopie I : Bases de la Microscopie

Microscopie I : Bases de la Microscopie Microscopie I : Bases de la Microscopie 1. Nature de la lumière 1.1 Le photon : définition D une manière générale, la lumière est constituée par des trains d ondes électromagnétiques. Ces trains d ondes

Plus en détail

- 1 - Expérience no 21 ELEMENTS D OPTIQUE 1. INTRODUCTION

- 1 - Expérience no 21 ELEMENTS D OPTIQUE 1. INTRODUCTION - 1 - Expérience no 21 1. INTRODUCTION ELEMENTS D OPTIQUE Dans cette expérience les principes de l optique géométrique sont applicables car les obstacles traversés par la lumière sont beaucoup plus grands

Plus en détail

Détermination des structures moléculaires Structures et diffraction.

Détermination des structures moléculaires Structures et diffraction. Détermination des structures moléculaires Structures et diffraction. Pr. Richard Welter, Institut de Biologie Moléculaire des Plantes, welter@unitra.fr CONTENU DES ENSEIGNEMENTS 1) Discussion sur la notion

Plus en détail

Prolongation d utilisation des sources scellées «périmées»

Prolongation d utilisation des sources scellées «périmées» 30/04/10 Prolongation d utilisation des sources scellées «périmées» Arrêté du 23 octobre 2009 portant homologation de la décision n 2009 DC 0150 du 16/07/09 de l ASN définissant les critères techniques

Plus en détail

Travaux Dirigés de Biologie Cellulaire. TD n 1 Compléments sur les microscopes

Travaux Dirigés de Biologie Cellulaire. TD n 1 Compléments sur les microscopes Travaux Dirigés de Biologie Cellulaire TD n 1 Compléments sur les microscopes Les différents types de microscopes photoniques A. Le microscope à fond noir B.Le microscope polarisant C.Le microscope à contraste

Plus en détail

PRINCIPE MICROSCOPIE CONFOCALE

PRINCIPE MICROSCOPIE CONFOCALE PRINCIPE MICROSCOPIE CONFOCALE Un microscope confocal est un système pour lequel l'illumination et la détection sont limités à un même volume de taille réduite (1). L'image confocale (ou coupe optique)

Plus en détail

Systèmes optiques pour la définition du faisceau X

Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Systèmes optiques pour la définition du faisceau X Stéphan Rouzière Laboratoire de Physique des Solides CNRS-UMR8502 Bat. 510, Université Paris-Sud 91405 Orsay Cedex Rayons X et Matière 2006 - Limoges

Plus en détail

MR, 2007 Optique 1/20 MR, 2007 Optique 2/20

MR, 2007 Optique 1/20 MR, 2007 Optique 2/20 Sources de lumière Sources naturelles Soleil Étoiles Sources artificielles Bougie Ampoule MR, 2007 Optique 1/20 Origine de la lumière Incandescence La lumière provient d un corps chauffé à température

Plus en détail

Les appareillages des Spectrométrie optique

Les appareillages des Spectrométrie optique ATELIERS DE BIOPHOTONIQUE Les appareillages des Spectrométrie optique 1. Spectroscopies optiques conventionnelles Spectrophotomètre, Spectrofluorimètre, 2. Analyse Spectrale en Microscopie de fluorescence

Plus en détail

Étude par microscopie électronique à haute

Étude par microscopie électronique à haute Sommaire Étude par microscopie électronique à haute résolution d agrégats de CoPt Nils Blanc - GDR Nano-alliages F. Tournus, T. Épicier (Laboratoire MATEIS - CLIME - INSA), V. Dupuis. Laboratoire de physique

Plus en détail

Limites instrumentales dans l analyse des verres par sonde ionique

Limites instrumentales dans l analyse des verres par sonde ionique Limites instrumentales dans l analyse des verres par sonde ionique Marc Chaussidon CRPG-CNRS, Nancy Laboratoire de sonde ionique (laboratoire national INSU-CNRS) (chocho@crpg.cnrs-nancy.fr) http://www.crpg.cnrs-nancy.fr/sonde/intro-sonde.html

Plus en détail

Chapitre 12 Physique quantique

Chapitre 12 Physique quantique DERNIÈRE IMPRESSION LE 29 août 2013 à 13:52 Chapitre 12 Physique quantique Table des matières 1 Les niveaux d énergie 2 1.1 Une énergie quantifiée.......................... 2 1.2 Énergie de rayonnement

Plus en détail

2. Le biologiste désire observer la cellule sans fatigue, c'est à dire sans accommoder.

2. Le biologiste désire observer la cellule sans fatigue, c'est à dire sans accommoder. P a g e 1 TS Spécialité Physique Exercice résolu Enoncé Depuis une vingtaine dannées la microscopie confocale a connu un développement considérable. Ces microscopes équipent maintenant un grand nombre

Plus en détail

Introduction à la physique du laser. 1ère partie : les caractéristiques des faisceaux gaussiens.

Introduction à la physique du laser. 1ère partie : les caractéristiques des faisceaux gaussiens. Introduction à la physique du laser. 1ère partie : les caractéristiques des faisceaux gaussiens. Objectifs Connaître les caractéristiques de la structure gaussienne d un faisceau laser (waist, longueur

Plus en détail

TP - MEB - EDS - EBSD

TP - MEB - EDS - EBSD 1 TP - MEB - EDS - EBSD Identification de systèmes de glissement dans un matériau HCP GARFIA ARBIA HOSDEZ JEROME 2 SOMMAIRE 1. Introduction... 3 2. Microscopie optique... 4 3. Microscopie électronique

Plus en détail

LES CAPTEURS PLAN : MARTINO Mickaël Élève manipulateur Service de coronarographie, clinique Claude Bernard.

LES CAPTEURS PLAN : MARTINO Mickaël Élève manipulateur Service de coronarographie, clinique Claude Bernard. LES CAPTEURS PLAN : MARTINO Mickaël Élève manipulateur Service de coronarographie, clinique Claude Bernard. GENERALITES : La radiologie standard a connu d importantes évolutions vers sa numérisation grâce

Plus en détail

SIMS. Les techniques d analyse de surfaces : SIMS. Spectroscopie de Masse d Ions Secondaires

SIMS. Les techniques d analyse de surfaces : SIMS. Spectroscopie de Masse d Ions Secondaires SIMS Spectroscopie de Masse d Ions Secondaires La Spectroscopie de Masse d Ions Secondaires (SIMS) est une technique d analyse physico-chimique de l'extrême surface des matériaux. Elle est basée sur la

Plus en détail

Unité d Enseignement Libre Université de Nice- Sophia Antipolis F. Millour PAGE WEB DU COURS : www.oca.eu/spip.php?article593 accessible via

Unité d Enseignement Libre Université de Nice- Sophia Antipolis F. Millour PAGE WEB DU COURS : www.oca.eu/spip.php?article593 accessible via Les moyens d observations en astronomie & astrophysique Unité d Enseignement Libre Université de Nice- Sophia Antipolis F. Millour PAGE WEB DU COURS : www.oca.eu/spip.php?article593 accessible via www.oca.eu/fmillour

Plus en détail

Scanner X. Master Images, Sciences et Technologies de l'information 2008-2009

Scanner X. Master Images, Sciences et Technologies de l'information 2008-2009 Scanner X Master Images, Sciences et Technologies de l'information 2008-2009 Intervenant: F. Rousseau Les rayonsx Production des rayonsx Interaction avec la matière Détectiondes rayonsx Les scanners X

Plus en détail

Spectroscopie d émission atomique

Spectroscopie d émission atomique Année Universitaire : 2010 / 2011 Spectroscopie d émission atomique Réalisé par demoiselles: Chadia BOUCHEFRA. Meryem MIMI. 1 PLAN: INTRODUCTION Spectroscopie d émission atomique: Définition. Avantages.

Plus en détail

INSTRUMENTS DE MESURE

INSTRUMENTS DE MESURE INSTRUMENTS DE MESURE Diagnostique d impulsions lasers brèves Auto corrélateur à balayage modèle AA-10DD Compact et facile d emploi et de réglage, l auto corrélateur AA-10DD permet de mesurer des durées

Plus en détail

MEB-FEG Fort courant ZEISS «Merlin»

MEB-FEG Fort courant ZEISS «Merlin» MEB-FEG Fort courant ZEISS «Merlin» Exemple d application : quantification de monocouches de ségrégation par WDS Frédéric hristien, Pawel Nowakowski, Yann Borjon-Piron, René Le Gall LGMPA - Polytech Nantes

Plus en détail

Vision industrielle Dispositif optique

Vision industrielle Dispositif optique Vision industrielle Dispositif optique Plan du cours L objectif La focale L ouverture La mise au point Qualité d image Choix de l objectif Cours de Vision Industrielle Nicolas Vandenbroucke 2 Constitution

Plus en détail

TUTORAT UE 3 2015-2016 Biophysique CORRECTION Séance n 3 Semaine du 28/09/2015

TUTORAT UE 3 2015-2016 Biophysique CORRECTION Séance n 3 Semaine du 28/09/2015 TUTORAT UE 3 2015-2016 Biophysique CORRECTION Séance n 3 Semaine du 28/09/2015 Optique 2 Mariano-Goulart QCM n 1 : A, C A. Vrai. Hz.m -1.s => B. Faux.. C. Vrai. L'équation donnée montre que l onde électrique

Plus en détail

Spectroscopie d émission: Luminescence. 1. Principe 2. Exemples et applications 3. Lasers (Rubis et YAG)

Spectroscopie d émission: Luminescence. 1. Principe 2. Exemples et applications 3. Lasers (Rubis et YAG) Spectroscopie d émission: Luminescence 1. Principe 2. Exemples et applications 3. Lasers (Rubis et YAG) I. Principe Etat excité instable Photon Retour à l état fondamental??? Conversion interne (non radiatif)

Plus en détail

cpgedupuydelome.fr -PC Lorient

cpgedupuydelome.fr -PC Lorient Première partie Modèle scalaire des ondes lumineuses On se place dans le cadre de l optique géométrique 1 Modèle de propagation 1.1 Aspect ondulatoire Notion d onde électromagnétique On considère une onde

Plus en détail

LE MEB : UN OUTIL D INVESTIGATION ORIGINAL POUR LE DIAMANT DE SYNTHÈSE

LE MEB : UN OUTIL D INVESTIGATION ORIGINAL POUR LE DIAMANT DE SYNTHÈSE LE MEB : UN OUTIL D INVESTIGATION ORIGINAL POUR LE DIAMANT DE SYNTHÈSE 6 ème journées CAZAC Colin Delfaure 21 MAI 2015 CEA 21 MAI 2015 PAGE 1 LABORATOIRE CAPTEURS DIAMANT MAÎTRISE DE LA SYNTHESE DU DIAMANT

Plus en détail

Formation des images, lentilles et miroirs

Formation des images, lentilles et miroirs Formation des images, lentilles et miroirs 1 Pourquoi faut-il une optique afin de créer une image? 2 Préambule: chaque point d un dun objet et la source d un ensembles de rayons Point source fronts d onde

Plus en détail

1 ) Composants de base permettant de modifier les caractéristiques géométriques d'un faisceau lumineux : miroirs, fibres optiques, lentilles

1 ) Composants de base permettant de modifier les caractéristiques géométriques d'un faisceau lumineux : miroirs, fibres optiques, lentilles II.2 ptique 1 ) Composants de base permettant de modifier les caractéristiques géométriques d'un faisceau lumineux : miroirs, fibres optiques, lentilles 1.1) Définitions 1.1.1) Rayons et faisceaux lumineux

Plus en détail

Caractérisation thermique à haute température de films fins par Radiométrie PhotoThermique

Caractérisation thermique à haute température de films fins par Radiométrie PhotoThermique Caractérisation thermique à haute température de films fins par Radiométrie PhotoThermique Andrea CAPPELLA, Vincent SCHICK, Jean-Luc BATTAGLIA, Andrzej KUSIAK 1/27 Plan de l exposé Matériaux caractérisés

Plus en détail

Chapitre I PHENOMENE DE FLUORESCENCE ORIGINE ET PROCESSUS. * hυ hυ

Chapitre I PHENOMENE DE FLUORESCENCE ORIGINE ET PROCESSUS. * hυ hυ Rayons Rayons X Ultra-violets Infra-rouges Micro-ondes Ondes radio 1 Chapitre I PHENOMENE DE FLUORESCENCE ORIGINE ET PROCESSUS Définitions * hυ hυ La fluorescence ou luminescence est l émission d énergie

Plus en détail

DIFFRACTion des ondes

DIFFRACTion des ondes DIFFRACTion des ondes I DIFFRACTION DES ONDES PAR LA CUVE À ONDES Lorsqu'une onde plane traverse un trou, elle se transforme en onde circulaire. On dit que l'onde plane est diffractée par le trou. Ce phénomène

Plus en détail

Observatoire astronomique de la Pointe du diable

Observatoire astronomique de la Pointe du diable Observatoire astronomique de la Pointe du diable 2. Le coronographe de Lyot Le coronographe est un système optique assez complexe conçu pour observer les protubérances solaires en réalisant une sorte «d

Plus en détail

Strioscopie et contraste de phase.

Strioscopie et contraste de phase. Strioscopie et contraste de phase. Première couche : Principe de la strioscopie question On place une source ponctuelle monochromatique au foyer-objet d une lentille convergente ; le faisceau émergent

Plus en détail

Figure 1 : Diagramme énergétique de la photo émission. E B = hν - E C

Figure 1 : Diagramme énergétique de la photo émission. E B = hν - E C ANALYSE XPS (ESCA) I - Principe La spectroscopie XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) ou ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) est basée sur la photo émission. Lors de l'irradiation par

Plus en détail

Préparation de lame TEM dans un FIB principe, avantages, inconvénients

Préparation de lame TEM dans un FIB principe, avantages, inconvénients Préparation de lame TEM dans un FIB principe, avantages, inconvénients B. Domengès Journée scientifique annuelle de l Institut de Recherche sur les matériaux avancés 28 juin 2012 - Caen Plan Introduction

Plus en détail

Première S Chapitre 12. Images formées par les systèmes optiques. I. Image donnée par un miroir. II. Images données par une lentille convergente

Première S Chapitre 12. Images formées par les systèmes optiques. I. Image donnée par un miroir. II. Images données par une lentille convergente Première S Chapitre mages formées par les systèmes optiques.. mage donnée par un miroir.. Lois de la réflexion Soit un rayon lumineux issu dun point lumineux S et qui rencontre en le miroir plan M. l donne,

Plus en détail

Chapitre 02. La lumière des étoiles. Exercices :

Chapitre 02. La lumière des étoiles. Exercices : Chapitre 02 La lumière des étoiles. I- Lumière monochromatique et lumière polychromatique. )- Expérience de Newton (642 727). 2)- Expérience avec la lumière émise par un Laser. 3)- Radiation et longueur

Plus en détail

Optique : expériences de base

Optique : expériences de base Préparation à l agrégation de Sciences-Physiques ENS Physique Optique : expériences de base Sextant, Optique expérimentale 1 I) Sources lumineuses 1) Sources thermiques Elles ont un spectre continu dont

Plus en détail

LE SPECTROSCOPE À PRISME. ANALYSE DES SPECTRES D ÉMISSION ET D ABSORBTION

LE SPECTROSCOPE À PRISME. ANALYSE DES SPECTRES D ÉMISSION ET D ABSORBTION LE SPECTROSCOPE À PRISME. ANALYSE DES SPECTRES D ÉMISSION ET D ABSORBTION 1. Le but du travail 1.1. Mise en evidence du phénomène de dispersion de la lumière par l observation des spectres d émission et

Plus en détail

L ETUDE DE LA CELLULE ET LA MICROSCOPIE

L ETUDE DE LA CELLULE ET LA MICROSCOPIE L ETUDE DE LA CELLULE ET LA MICROSCOPIE Ce document a été réalisé à partir du dossier«sagascience: La celluleanimale» http://www.cnrs.fr/cw/dossiers/doscel/decouv/norm/global.htm. Les outils utilisés pour

Plus en détail

TP vélocimétrie. Laser, Matériaux, Milieux Biologiques. Sécurité laser

TP vélocimétrie. Laser, Matériaux, Milieux Biologiques. Sécurité laser TP vélocimétrie Laser, Matériaux, Milieux Biologiques Sécurité ATTENTION : le faisceau du Hélium-Néon utilisé dans cette salle est puissant (supérieur à 15 mw). Il est dangereux et peuvent provoquer des

Plus en détail

ANNALE 2005-2006 FILERE FAS

ANNALE 2005-2006 FILERE FAS Première Année Premier Cycle ANNALE 2005-2006 FILERE FAS INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE LYON Par M.Rey marie.rey@insa-lyon Physique 1 Filière FAS TABLE DES MATIERES PROPAGATION DE LA LUMIERE...

Plus en détail

Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs Jeudi 2 décembre 2010

Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs Jeudi 2 décembre 2010 Edité le 29/10/2010 Colonnes électroniques et ioniques - Détecteurs spécifiques associés : Etat de l'art présenté par les constructeurs Jeudi 2 décembre 2010 09h00-09h30 09h30-10h30 10h30-13h45 14h00-14h30

Plus en détail

Les rayons X. Olivier Ernst

Les rayons X. Olivier Ernst Les rayons X Olivier Ernst Lille La physique pour les nuls 1 Une onde est caractérisée par : Sa fréquence F en Hertz (Hz) : nombre de cycle par seconde Sa longueur λ : distance entre 2 maximum Sa vitesse

Plus en détail

Bases de la microscopie et quelques aspects avancés

Bases de la microscopie et quelques aspects avancés Bases de la microscopie et quelques aspects avancés Intervenant : François Waharte Plateforme Imagerie Cellulaire et Tissulaire UMR144 Institut Curie Francois.Waharte@curie.fr Bases de la microscopie

Plus en détail

Microscopie de fluorescence Etat de l art

Microscopie de fluorescence Etat de l art Etat de l art Bibliométrie (Web of sciences) CLSM GFP & TPE EPI-FLUORESCENCE 1 Fluorescence Diagramme de JABLONSKI S2 S1 10-12 s Excitation Eex Eem 10-9 s Émission Courtoisie de C. Spriet

Plus en détail

Etude expérimentale sur les interférences lumineuses

Etude expérimentale sur les interférences lumineuses Etude expérimentale sur les interférences lumineuses La lumière est une onde électromagnétique. Deux ondes sont à même d interagir en se sommant. Dans certains cas particuliers, notamment pour deux rayons

Plus en détail

1 Introduction générale

1 Introduction générale Expérience n 10 Éléments d optique Domaine: Optique, ondes électromagnétiques Lien avec le cours de Physique Générale: Cette expérience est liée aux chapitres suivants du cours de Physique Générale: -

Plus en détail

Méthodes géophysiques et géochimiques

Méthodes géophysiques et géochimiques Méthodes géophysiques et géochimiques 1.3. TD Introduction Il y a 4.567 milliards d années (Ga), au moment où le nuage de gaz et de poussière qui va constituer le système solaire s effondre sur lui même,

Plus en détail

MP112: Physique du solide

MP112: Physique du solide MP112: Physique du solide Organisation du module Intervenants J.S. Lauret, Emmanuelle Deleporte et Géraud Delport (Laboratoire Aimé Cotton, département de physique de l ENS Cachan) Recherche: Equipe NanoPhot,

Plus en détail

Cours Physique Interaction onde-matière classe : 4ème Maths 3+Tech 1 Introduction :

Cours Physique Interaction onde-matière classe : 4ème Maths 3+Tech 1 Introduction : Cours Physique Interaction onde-matière classe : 4 ème Maths 3+Tech I- Introduction : En laissant l œil semi-ouvert lors de la réception de la lumière on observe des annaux alternativement brillants et

Plus en détail

Études par diffraction de fibres de l ADN double brin

Études par diffraction de fibres de l ADN double brin J. Phys. IV France 130 (2005) 63 74 C EDP Sciences, Les Ulis DOI: 10.1051/jp4:2005130004 Études par diffraction de fibres de l ADN double brin V.T. Forsyth 1,2 et I.M. Parrot 1,2 1 Institut Laue Langevin,

Plus en détail

La thermographie infrarouge

La thermographie infrarouge La thermographie infrarouge Christophe Delmotte, ir Laboratoire Qualité de l Air et Ventilation CSTC - Centre Scientifique et Technique de la Construction Définition 1 Le rayonnement électromagnétique

Plus en détail

Caractérisation risation thermique photothermiques périodiques

Caractérisation risation thermique photothermiques périodiques Journée «Contrôle non destructif par voie optique infrarouge : De nouvelles techniques et de nouvelles applications». Salon Mesurexpo, Paris-Expo, Porte de Versailles, Jeudi Caractérisation risation thermique

Plus en détail

Physique 51421. Module 3 Lumière et optique géométrique. Rappel : les ondes. Caractéristiques des ondes. Vitesse de la lumière

Physique 51421. Module 3 Lumière et optique géométrique. Rappel : les ondes. Caractéristiques des ondes. Vitesse de la lumière Physique 51421 Module 3 Lumière et optique géométrique Rappel : les ondes Il existe deux types d ondes : Ondes transversale : les déformations sont perpendiculaire au déplacement de l onde. (ex : lumière)

Plus en détail

Cours S6. Formation d une image

Cours S6. Formation d une image Cours S6 Formation d une image David Malka MPSI 2015-2016 Lycée Saint-Exupéry http://www.mpsi-lycee-saint-exupery.fr Table des matières 1 Le miroir plan 1 1.1 Le miroir plan...............................................

Plus en détail

EXAMEN #2 ONDES ET PHYSIQUE MODERNE 20% de la note finale

EXAMEN #2 ONDES ET PHYSIQUE MODERNE 20% de la note finale EXAMEN #2 ONDES ET PHYSIQUE MODERNE 20% de la note finale Automne 2011 Nom : Chaque question à choix multiples vaut 3 points 1. Une lentille convergente dont l indice de réfraction est de 1,5 initialement

Plus en détail

La caméra bolométrique des Travaux Pratiques de l Ecole Supérieure d Optique

La caméra bolométrique des Travaux Pratiques de l Ecole Supérieure d Optique Présentation réalisée par des étudiants de SupOptique : Jean-Baptiste Frossard, Julien Saby,, Thierry Lautier Encadrés par : Marc Bondiou La caméra bolométrique des Travaux Pratiques de l Ecole Supérieure

Plus en détail

Simulation d'un examen anthropomorphique en imagerie TEMP à l iode 131 par simulation Monte Carlo GATE

Simulation d'un examen anthropomorphique en imagerie TEMP à l iode 131 par simulation Monte Carlo GATE Simulation d'un examen anthropomorphique en imagerie TEMP à l iode 131 par simulation Monte Carlo GATE LAURENT Rémy laurent@clermont.in2p3.fr http://clrpcsv.in2p3.fr Journées des LARD Septembre 2007 M2R

Plus en détail

6. Ondes électromagnétiques et rayons lumineux

6. Ondes électromagnétiques et rayons lumineux 6. Ondes électromagnétiques et rayons lumineux Ce chapitre contient des rappels d optique géométrique et vise à faire le lien entre les notions d ondes étudiées au début du cours et l optique géométrique.

Plus en détail

Détection exaltée de molécules fluorescentes avec des structures photoniques : application aux mesures dynamiques en solution

Détection exaltée de molécules fluorescentes avec des structures photoniques : application aux mesures dynamiques en solution Détection exaltée de molécules fluorescentes avec des structures photoniques : application aux mesures dynamiques en solution Jérôme Wenger Institut Fresnel, CNRS, Université Aix-Marseille, Ecole Centrale

Plus en détail

Notions de spéctrométrie de masse et de spectroscopie RMN 13 C

Notions de spéctrométrie de masse et de spectroscopie RMN 13 C Notions de spéctrométrie de masse et de spectroscopie RMN 13 C Cyril BARSU Laboratoire de Chimie Département des sciences de la matière Spectrométrie de masse - Actuellement, le secteur le plus dynamique

Plus en détail

Faisceau gaussien. A = a 0 e ikr e i k. 2R (x2 +y 2 )

Faisceau gaussien. A = a 0 e ikr e i k. 2R (x2 +y 2 ) Faisceau gaussien 1 Introduction La forme du faisceau lumineux émis par un laser est particulière, et correspond à un faisceau gaussien, ainsi nommé car l intensité décroît suivant une loi gaussienne lorsqu

Plus en détail

Séquence 9. Étudiez le chapitre 11 de physique des «Notions fondamentales» : Physique : Dispersion de la lumière

Séquence 9. Étudiez le chapitre 11 de physique des «Notions fondamentales» : Physique : Dispersion de la lumière Séquence 9 Consignes de travail Étudiez le chapitre 11 de physique des «Notions fondamentales» : Physique : Dispersion de la lumière Travaillez les cours d application de physique. Travaillez les exercices

Plus en détail

Le Monde Quantique L3 PHYTEM Bases de la Mécanique Quantique Cours d introduction

Le Monde Quantique L3 PHYTEM Bases de la Mécanique Quantique Cours d introduction Le Monde Quantique L3 PHYTEM Bases de la Mécanique Quantique Cours d introduction C. Fabre fabre@spectro.jussieu.fr rdres de grandeur - échelle terrestre : d 7 10 m 25 10 Kg - échelle terrestre : d 7 10

Plus en détail

Journée d étude «Nano : enjeux et risques» 24 avril 2015 Catherine HENRIST ULg-GreenMAT. Caractérisation et stabilisation des nanopoudres

Journée d étude «Nano : enjeux et risques» 24 avril 2015 Catherine HENRIST ULg-GreenMAT. Caractérisation et stabilisation des nanopoudres Journée d étude «Nano : enjeux et risques» 24 avril 2015 Catherine HENRIST ULg-GreenMAT Caractérisation et stabilisation des nanopoudres Journée d étude «Nano : enjeux et risques» 24 avril 2015 Catherine

Plus en détail

Paire Amplitude de l onde 1 Amplitude de l onde 2 Différence de phase A 3 mm 6 mm π rad B 5 mm 1 mm 0 rad C 9 mm 7 mm π rad D 2 mm 2 mm 0 rad

Paire Amplitude de l onde 1 Amplitude de l onde 2 Différence de phase A 3 mm 6 mm π rad B 5 mm 1 mm 0 rad C 9 mm 7 mm π rad D 2 mm 2 mm 0 rad 1. Laquelle des affirmations suivantes est fausse? A) Pas toutes les ondes ne sont des ondes mécaniques. B) Une onde longitudinale est une onde où les particules se déplacent de l avant à l arrière dans

Plus en détail